厂商 ：无锡冠亚恒温制冷技术有限公司
江苏 无锡市- 主营产品：
- 高低温一体机
- 冷冻机
- 冷水机
| 型号 |
SR-35N SR-35NS SR-35NH SR-35NSH |
SR-50N SR-50NS SR-50NH SR-50NSH |
SR-80N SR-80NS SR-80NH SR-80NSH |
SR-125N SR-125NS SR-125NH SR-125NSH |
SR-200N SR-200NS SR-200NH SR-200NSH |
| 设备介质温度范围 |
-120~ 250度 （根据需方提供冷源热源决定最大温度值） -40～135度（采用乙二醇水配方溶液可运行最宽温度范围） |
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| SR- N |
一组冷却换热器，一组加热换热器，通过比例调节阀控制冷热量进入到换热器，再通过统一介质输入到反应釜夹套进行换热控温，系统内置有膨胀罐 |
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| SR- NS |
具备SR- N功能之外，增加一组换热器用于高温降温功能 |
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| SR- NH |
具备SR- N功能之外，增加电辅助加热功能 |
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| SR- NSH |
具备SR- N功能之外，增加一组换热器用于高温降温功能和电辅助加热功能 |
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| 膨胀罐容积 |
100L |
200L |
280L |
390L |
500L |
| 换热器面积 |
3.5m2 |
5m2 |
8m2 |
12.5m2 |
20m2 |
| 电加热功能 H |
25KW |
35KW |
50KW |
65KW |
80KW |
| 后缀有H型号带电加热功能 |
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| 控制模式 |
前馈PID，模糊自建树算法，LNEYA PLC控制器 |
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| 通信 |
MODBUS RTU协议 RS485 接口,可选配 以太网接口/R232接口 |
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| 温度控制选择 |
反应物料温度控制 |
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| 温度反馈 |
设备导热介质出口温度、进口温度、反应器物料温度（外接温度传感器）三点温度 温度反馈：默认PT100 |
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| 物料温度反馈 |
物料温度反馈：PT100或4～20mA或通信给定 温度反馈：默认PT100 |
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| 物料温度精度 |
±1℃ |
±1℃ |
±1℃ |
±2℃ |
±2℃ |
| 循环泵 |
200L/min 2.5BAR |
250L/min 2.5BAR |
400L/min 2.5BAR |
500L/min 2.5BAR |
750L/min 2.5BAR |
| 输入、显示 |
7寸彩色触摸屏显示与触摸键输入，温度曲线显示 |
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| 安全保护 |
具有自我诊断功能，过载继电器、热保护装置、低液位保护、传感器故障保护等多种安全保障功能 |
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| 执行阀件 |
电动比例调节阀 控制信号 4~20mA |
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| 管路材质 |
SUS304 |
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| 接口尺寸 |
DN40 |
DN40 |
DN-50 |
DN-65 |
DN-80 |
| 外型尺寸 |
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| 电源 |
1.6kw（max) |
2.1kw（max) |
2.5kw（max) |
5.7kw（max) |
7.7kw（max) |
| 后缀H电源 |
26.6kw（max) |
37.1kw（max) |
52.5kw（max) |
70.7kw（max) |
87.7kw（max) |
| 外壳材质 |
SUS 304 |
SUS 304 |
SUS 304 |
SUS 304 |
SUS304 |
芯片测试设备行业现状
随着半导体、集成电路的行业的迅猛发展，芯片测试设备行业也得到了一定的开发，无锡冠亚芯片测试也在不断生产中，符合芯片测试行业的飞快发展。
芯片测试工序是半导体集成电路制程的比较重要的一道工序，是将封装后的芯片置于各种环境下测试其电气性能，如响应时间、消耗功率、精度和噪声、运行速度、电压耐压度等等。通常一个产品的之后测试都要通过成百上千个测试条目，任何一个条目不通过都会导致芯片的不合格。其中的一些电性参数相对于温度的变化会产生一定的漂移或变化，所以为了保证芯片之后应用时的可靠，很多产品都需要进行高温、低温与室温的测试，简称三温测试，尤其是针对一些汽车级、工业级产品。
芯片测试发展至今，其温度控制都是依赖于无锡冠亚芯片测试进行，芯片测试的作用有一个重要的作用就是提供高低温的测试环境。然这也跟同时期的芯片测试的整体技术水平有关，这一时期普遍对测试的温度控制水平要求不高或者说不需要特别准确的温度控制。芯片测试在近10多年的发展已经比较成熟，但是随着元器件技术的发展及本身准确度的提高，传统的芯片测试已经远远不能满足要求。因为没有芯片实际温度的反馈，所以很难得知在测芯片的实际温度是不是达到了设定的温度范围。因此芯片实际温度的反馈是很关键的一点，也是芯片测试温度控制水平发展的重要标志。
芯片测试设备经过芯片、半导体、元器件行业的迅猛发展，也带动了无锡冠亚芯片测试设备的发展，用户如果有需要的话，可以联系芯片测试设备厂家进行选购。（注：本来部分内容来百度学术相关论文，如果侵权，请及时联系我们进行删除，谢谢。）