X射线衍射仪

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X射线衍射仪（XRD）检测


测试方法介绍

1.俄歇能谱仪（AES）
方法：材料表面形貌观察及表面不同深度的无机物成分分析,最小分析深度:表面3nm，剖面分析深度：2-20nm，检出限：0.1-1at%
样品：非水份或不含水份及挥发性物质的导电固体样品，粉末样品以工程师确认结果而定。尺寸：Max. 10mm

2.X射线光电子（XPS/ESCA）
方法：材料表面不同深度组成元素的定性、半定量、价态分析，最小分析深度:表面2nm，检出限：0.01-1at%
样品：非水份或不含水份及挥发性物质的固体样品，粉末样品以工程师确认结果而定。样品尺寸Max. 4*4*4.5cm

3.二次离子质谱仪（SIMS）
方法：对薄膜，材料表面，界面的元素及分子等结构进行分析，分析深度:表面1-10nm，剖面分析：2-20nm，检出限：1012-1016at/cm3
样品：非水份或不含水份及挥发性物质的固体样品，粉末样品以工程师确认结果而定。样品尺寸Max. 4*4*3.5cm

4.X射线衍射仪（XRD）
方法：表征材料的晶体结构,织构及应力，进行物相分析,定性分析和半定量分析.只有图谱的标准卡，无对应的测试标准。检出限：1at%
样品：粉末样品----在硅片试样台上制样，放入仪器中，设定测试参数，开始测试。块状样品---切割成样品台大小，不超过2.5*2.5cm, 放入仪器中，设定测试参数，开始测试。块状或粉末样品10g以上。

5.透射电子显微镜（TEM）/EDS
方法：用于材料的超微结构观察、成分分析，检出限：0.5%

6.显微共焦拉曼光谱仪（Raman）
方法：分析材料物质组分及结构，检出限：≥1wt%
样品：块状或粉末样品，10g以上

我们赛特检测经过数年的积累和发展已建设成为一个集试验技术研究与应用、试验检测与分析、试验设备研制为一体的综合性检测服务机构，具备丰富的环境可靠性试验工程技术、失效分析技术、理化检测技术研究及实践经验，严格按照CNAS认可委的要求建设实验室，并依据ISO/IEC17025：2006进行实验室管理，遵循“公正、科学、准确、高效”的准则，依照IEC、ISO、IEEE、MIL、ASTM、J-STD、GJB、GB、SJ等国际、国内标准，为企业提供专业检测技术服务。

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