采样示波器DSA8200

美国泰克DSA8300 数字采样示波器

    DSA8300 是一款先进的等效时间采样示波器，为通信信号分析、串行数据网络分析以及串行数据链路分析应用提供的保真测量和分析功能。

关键性能指标

超低时基抖动：

在同时采集的***多 8 条通道上，典型值为 425 fs

使用 82A04B 相位参考模块时，在***多 6 条通道上<100 fs

的垂直分辨率 – 16 位模数转换器

电接口分辨率：<20 μV LSB（适用于 1 V 全量程）

光接口分辨率从 80C07B（1 mW 全量程）的<20 nW 到 80C10C（30 mW 全量程）的 <0.6 μW

>80 GHz 的光接口带宽

电接口带宽 >70 GHz

为 NRZ、RZ 和脉冲信号类型提供了超过 120 种自动测量功能

80 多种行业标准模板，自动进行模板测试

主要特点

各种光模块、电模块和配套模块可以满足您的特定测试要求。

光接口模块

全面集成光模块，支持155 Mb/s ~ 100 Gb/s的光数据速率

经过认 证 的光接口参考接收机，支持标准规定必须进行的一致性测试指定的要求

光带宽>80 GHz

光接口采样模块提供了高光学灵敏度、低噪声及宽动态范围，可以准确地测试和检定短程到远程光接口通信标准

经过全面校准的时钟恢复解决方案 – 不需要手动校准数据捡拾损耗

对采用这种出厂校准选项的模块，经过校准的消光比测量确保消光比测量在系统间的可重复性<0.5 dB

电接口模块

超低噪声电采样器（20GHz时280 μV, 60GHz时450 μV, 典型值）

可以选择带宽1允许用户用采样器带宽和噪声换取***优的数据采集性能

远程采样器2或紧凑的采样扩展模块电缆，采样器可以放在被测器件附近，使信号劣化达到***小

高性能集成TDR （10 ps典型步进上升时间）支持杰出的阻抗不连续性检定，对50 GHz的S参数测量提供了高动态范围

分析

为 NRZ、RZ 和脉冲信号类型提供了一套完整的超过 120 种自动测量功能

自动模板测试，支持80多种行业标准模板。 新模板可以导入DSA8300，支持各种新兴标准。 用户可以定义自己的模板，自动进行模板测试

垂直和水平直方图，进行波形统计分析

垂直光标、水平光标和波形光标（及测量）

抖动、噪声、BER、模板测试和串行数据链路分析（SDLA）通过80SJNB Essentials和Advanced应用软件选项提供

高级TDR分析、S参数测量、仿真模型提取和串行链路仿真功能通过IConnect?应用软件选项提供

高测试吞吐量

每条通道高达 300 kS/s 的采样采集速率

高效编程接口（IEEE-488、以太网或本地处理器接入）实现高测试吞吐量

1 使用 80E07B、80E08B、80E09B、80E10B、80E11 和 80E11X1 模块。

2 仅适用于 80E07B、80E08B、80E09B 和 80E10B。

应用

设计/检验电信和数据通信器件和系统

ITU/ANSI/IEEE/SONET/SDH 制造/一致性测试

高性能真正差分 TDR 测量

串行数据应用阻抗检定和网络分析，包括 S 参数

高级抖动、噪声、BER和SDLA分析

使用IConnect基于通道和眼图仿真和测量建模

杰出的性能，优异的通用性

DSA8300 数字串行分析仪为开发和测试采用几千兆位数据传输技术的通信、计算机和消费电子提供了用途***广泛的工具。 它可以用来对这些产品中使用的器件、模块和系统的光接口和电接口发射机进行检定及一致性测试检验。

此外，DSA8300 特别适合电接口信号路径检定，包括封装、PCB 或电缆。 由于杰出的带宽、信号保真度及可扩展性的模块化模块，DSA8300 为当前和新兴串行数据技术提供了性能的 TDR 和互连分析能力、***准确的信号损伤分析能力以及 BER 计算功能。

采样模块

高速光接口测试解决方案

DSA8300 拥有高度可配置的主机和各种光接口模块，为 125 Mb/s 至 100 Gb/s 以上应用提供了完整的高保真光接口测试解决方案。这些模块涵盖了单模光纤和多模光纤的各种波长。每个模块可以选配多个可选择的光接口参考接收机 (ORR) 滤波器和/或一条全带宽路径。每个模块还支持全面校准的时钟恢复解决方案（可以集成到模块中，或通过数据捡拾发送到外部时钟恢复模块或独立式时钟恢复仪器）。