HAST测试机构

HAST测试报告、HAST试验方法.

项目介绍

HAST测试：也称（高加速老化试验）。目的为了提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间，因此用来确定成品质量的测试时间也相应增加了许多为了提高试验效率和减少测试时间。

HAST测试参考标准：

IEC 60068-2-66:1994

GB/T2423.40-1997 等

测试范围：

显示屏、IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料，EVA、光伏组件 等等。

环境可靠性试验：

是指为整机和电工电子元器件或材料提供的一种人工模拟气候环境条件或加速试验条件，以评估实际使用环境对产品或材料性能的预期影响，目的在于暴露产品在元器件选择和结构设计以及工艺方面的缺陷，以改进产品的环境适应能力.

气候环境试验一般分为模拟试验、加速试验两种。如常规的高低温储存试验为环境模拟试验，试验周期较长。而快速温变试验或HALT试验等则为加速试验，可以明显缩短环境可靠性试验周期，快速暴露出产品在使用寿命周期内的缺陷。大多数产品在定型前都需要进行环境可靠性试验，以评估其在使用环境条件下的长期适应能力.

环境可靠性测试项目：

HAST测试、高低温试验,温度循环试验、防尘防水试验、霉菌试验、老化试验、太阳辐射试验、气体腐蚀试验、低气压试验、盐雾腐蚀测试 等等。

机械环境可靠性测试项目：

振动试验、碰撞试验、跌落试验,冲击试验、堆码试验、拉力试验、折弯试验 等等。

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