电子元器件冷热冲击试验标准

冷热冲击试验

概述：

冷热冲击试验又名温度冲击试验或高低温冲击试验，测试材料结构或复合材料，在瞬间下经极高温及极低温的连续环境下所能忍受的程度，得以在最短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。是装备设计定型的鉴定试验和批产阶段的例行试验中不可缺少的试验，在有些情况下也可以用于环境应力筛选试验。可以说冷热冲击试验箱在验证和提高装备的环境适应性方面应用的频度仅次于振动与高低温试验。

测试范围：

金属、塑料、橡胶、电子元器件、电子产品等材料

测试方法：

1、气体法
气体法有两种实现方式，一种为手动转换，将产品在高温箱和低温箱之间进行转换；另一种为冲击试验箱，通过开关冷热室的循环风门或其它类似手段实现温度转换。其中温度上限、温度下限为产品的存储极限温度值。

2、液体法

液体法实现方式为吊篮式，将产品放置在吊篮中按照要求浸入不同的温度液体中。则适用于玻璃－金属密封及类似产品。

参考标准：

GB/T2423.22
GJB150.5
GJB360.7
GJB367.2