电子元器件老化检测标准

老化试验

概述：
老化试验是指模拟产品在现实使用条件中涉及到的各种因素对产品产生老化的情况进行相应条件加强实验的过程。深圳赛特提供服务有：可靠性测试、材料物理性能测试、材料分析、环保测试、包装材料检测。

老化试验项目：
1、光老化测试：氙弧灯老化、紫外灯老化、碳弧灯老化

2、盐雾老化：酸性盐雾实验、铜离子加速盐雾实验、循环盐雾实验、中性盐雾试验
3、热老化
4、湿热老化
5、臭氧老化
6、高低温循环


老化试验范围：
橡胶、塑料产品、电器绝缘材料、橡、涂料、油墨产品、汽车件配件、摩托车配件、PCB板、PET、PBT、涂料、镀层、TPU、EPDM、电子元器件等


参考标准：
GB/T 16422.2
GB/T4892.2
GB/T 7141
ASTM D3045
JIS K 6257
GB/T 15905
GB/T 2573
GB/T 10125
GB/T 12000
ASTM D117 
JIS Z2371
GB/T 7762
GB/T 24134
GB/T 2423
JG/T 25