X荧光光谱仪

产品说明、技术参数及配置

性能特点

三重安全保护模式
相互独立的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
任意多个可选择的分析和识别模型
高信噪比的电子线路单元
全元素测试专用X荧光分析软件
与传统仪器相比，新增加的抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的版图
采用世界上最好的SDD硅漂移探测器，分辨率最低至139ev，更好的检测铂金中铱和金的含量
提供多种准直器，直径最小达0.2mm，轻松实现精小部位的精确测试
精选全球优质组件组件
真空腔
在分析低含量的轻元素时，必须使用真空泵设备把空气抽出，使内部在真空状态下对轻元素进行分析。
真空泵（选配）
极限真空：6×10-2 帕转速：1400 转/分 抽率：1 升/秒 功率：0.25 千瓦

技术指标

测量元素范围：从钠（Na）至铀（U）
测量对象状态：粉末、固体、液体
同时分析元素：30种元素同时分析
元素含量分析范围：1ppm-99.99%
能量分辨率为：140±5ev
测量时间：60s-200s（可调）
制冷方式：电制冷，无需任何耗材
环境温度：10℃-30℃
环境湿度：35%-70%
输入电压：AC 110V/220V
管压：5kV-50kV
管流：50μA-1000μA
样品腔尺寸：334×500×80mm
外观尺寸：670×533×855 mm
重量：80kg

标准配置

美国Amptek原装进口SDD探测器
数字多道分析器
放大电路、高低压电源、高效X光管
计算机、打印机、真空泵（选配）、稳压电源（选配）

软件：贵金属分析软件（标配）、镀层分析软件（选配）、有害元素分析软件（选配）