机器视觉 芯片检测系统 电子元器

    芯片尺寸检测系统主要技术特点：

    1.基于PC平台，系统可扩充性强，基于机器视觉软件平台可扩展其它功能。

    2.操作界面清晰明了，简单易行，只需简单设定即可自动执行测量；

    3.测量软件及算法完全自主开发，系统针对性强；

    4.可灵活设置检测模板、检测范围；可选择局部检测功能，提高测量速度；

    5.支持多种型号产品的测量、具备产品在线自动搜索等功能；

    6.采用高速工业相机，适用于静态或动态生产线检测；

    7.安装简单，不影响原生产线工作；结构紧凑，易于操作、维护和扩充；可靠性高，运行稳定，适合各种现场运行条件；

    8.专业化光源设计，成像清晰均匀，确保测量任务完成；