介温谱测量仪

介温谱测量仪介温谱测量仪介温谱测量仪介温谱测量仪介温谱测量仪介温谱测量仪介温谱测量仪介温谱测量仪 介电温谱测量系统 一、性能特点： ■ 测试频率20Hz～2MHz，10mHz步进 ■ 测试电平10mV～5V, 1mV步进 ■ 基本准确度0.1% ■ 最-高达200次/s的测量速度 ■ 320×240点阵大型图形LCD显示 ■ 五位读数分辨率 ■ 可测量22种阻抗参数组合 ■ 四种信号源输出阻抗 ■ 10点列表扫描测试功能 ■ 内部自带直流偏置源 ■ 外置偏流源至40A(配置两台TH1776)(选件) ■ 电压或电流的自动电平调整(ALC)功能 ■ V、I测试信号电平监视功能 ■ 图形扫描分析功能 ■ 20组内部仪器设定可供储存/读取 ■ 内建比较器,10档分选及计数功能 ■ 多种通讯接口方便用户联机使用 ■ 2m/4m测试电缆扩展(选件) ■ 中英文可选操作界面 ■ 可通过USB HOST 自动升级仪器工作程序 二、主要用途： 无源元件：电容器、电感器、磁芯、电阻器、压电器件、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数评估和性能分析。 半导体元件：变容二极管的C-VDC特性；晶体管或集成电路的寄生参数分析 其它元件：印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻抗评估 介质材料：塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估 磁性材料：铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估 半导体材料：半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性 液晶材料：液晶单元的介电常数、弹性常数等C-V特性 三、技术参数 测试参数 C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR 测试频率 20 Hz～2MHz,10mHz步进 测试信号电 f≤1MHz 10mV～5V,±（10%+10mV） 平 f>1MHz 10mV～1V,±（20%+10mV) 输出阻抗 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω 基本准确度 0.1% L 0.0001 uH ～ 9.9999kH C 0.0001 pF ～ 9.9999F R,X,Z,DCR 0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ 显示范围 Y, B, G 0.0001 nS ～ 99.999 S D 0.0001 ～ 9.9999 Q 0.0001 ～ 99999 θ -179.99°～ 179.99° 测量速度 快速: 200次/s（f﹥30kHz） ,100次/s（f﹥1kHz） 中速: 25次/s, 慢速: 5次/s 校准功能 开路 / 短路点频、扫频清零，负载校准 等效方式 串联方式, 并联方式 量程方式 自动, 保持 显示方式 直读, Δ, Δ% 触发方式 内部, 手动, 外部, 总线 内部直流偏 电压模式 -5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步进 置源 电流模式（内阻为50Ω） -100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步进 比较器功能 10档分选及计数功能 显示器 320×240点阵图形LCD显示 存储器 可保存20组仪器设定值 USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support) USB HOST(FAT16 and FAT32 support) 接口 LAN(LXI class C support) RS232C HANDLER GPIB（选件） 四、温控装置： 试验温度范围：-196°C---1500°C（温度范围可选） 升温速率匀速可调 测度精度：0.5°C 温度波动度：3°C