质量保证微位移传感器

SWG-C光栅测微传感器

光栅测微传感器(SWG-C)，是以高精度光栅作为检测元件的精密测量装置。与数显表配套，组成高精度数字化测量仪器。可以代替机械式千分表、扭簧比较仪、深度尺、电感测位移和精密量块，配以适当的转换器，可将温度、压力、硬度、重量等参数转换为数字量。用于自动化大生产中在线监测及精密仪器的位置检测。其优点是测量值数字化显示，精度高，稳定可靠，读数直观准确。亦可把测量数据输入计算机打印出测量数据或绘出曲线。

一、主要技术参数：

1． 测量范围：0~10  0~20  0~30  0~40  0~50（mm）

2． 栅    距：10um(100对线/毫米)，20um（50X寸线/毫米）

3． 显示分辨率：0.5um,5um，1um

4． 准 确 度：±1um, ±2um

5． 重复精度：±1个显示值

6．输出信号：相位依次相差90°幅值大于500mv二路或四路脉冲信号，无绝对参考零位

7．光    源：红外发光二极管

8．接收元件：组合光电二极管

9．工作温度：0℃~40℃

10．储存温度：-20℃~70℃

11．外形尺寸：长*宽*厚=L*42*22（mm）,L0测杆伸出长度。

12.工作电压：+5V,+24V