日本Horiba激光粒度仪

厂商 ：深圳市鸿永精仪科技有限公司

广东 深圳
  • 主营产品：
  • RoHS检测仪
  • 原子吸收光谱仪
  • 无卤检测仪
联系电话 ：18665977891
商品详细描述
鸿永精仪销售日本Horiba激光粒度仪包括马尔文激光粒度仪产品，国产百特，珠海欧佩克激光粒度仪器

颗粒表征

HORIBA设计、生产并提供目前最先进水平的颗粒表征仪器。

涵盖HORIBA五大产品领域，带有HORIBA品牌标志的分析仪器代表了当代分析仪器的极高要求和性能。

从1979年开始，HORIBA研制生产的颗粒特性和表征仪器同样蕴含了上述理念。无限的创新，高水准的表现都是为了一个终极目标：树立仪器可用性的新标准。

颗粒特性和表征产品

HORIBA 颗粒特性和表征领域内的产品涵盖了颗粒度分布，颗粒形貌分析，Zeta电位和表面领域分析。能对颗粒度范围从1nm到30mm,浓度范围从1ppm到50体积百分比的样品进行测量和形貌分析。Horiba与此相关的技术有激光散射（米氏原理）， 动态光散射， 电超声频谱法以及动态和静态图像分析。 （能同时检测颗粒度分布和样品形貌）.

HORIBA先进和强大的软件与灵活的样品处理系统相结合，从而满足了不同的分析需求。仪器所具备的微容量分析系统，高度自动化，干燥粉末的分散和测试系统以及温度控制系统等，为使用者提供了最佳分析解决方案。

粒度仪

  • 激光散射粒度仪
    • LA-960
    • LA-950V2
    • LA-300
  • 动态光散射粒度仪
    • SZ-100

颗粒特性领域的支持

HORIBA的支持团队由富有经验的HORIBA服务工程师和经过完全培训的代理商组成。可以和用户签署常规的或者特殊优化的维护保养合同
专业的应用和技术支持团队分布在全球的每个子公司从而协助客户完成客户自己的检测方法，数据分析和提供培训。
HORIBA客户支持团队所提供的教育，培训和支持，使得客户能最大化的发挥出仪器的性能。

联络鸿永精仪 ，和我们的颗粒特性专家交流吧!

Partica mini LA-350-紧凑型激光粒度仪


概要

HORIBA全新LA-350激光散射粒径分布分析仪完美结合了性能，价格和外观设计，尤其擅长在质量管理上的应用，包括浆料，矿物，造纸等行业。基于以往LA系列先进的光路设计，LA-350在多功能、易操作、少维护和低成本之间达到了和谐的平衡。

另外，购买HORIBA所有产品都有权获得HORIBA随之提供的一流的支持和培训。HORIBA提供定期的服务协议，正规指导视频，定期培训课程。HORIBA客户不仅拥有最好的分析仪，他们也是行业中最好的分析专家。

特征

  • 测量范围：0.1 - 1,000 ?m适用于最宽范围的应用，拥有可以匹敌多款其他全范围系统的高性能。
  • 紧凑的尺寸：实验室拥挤？经常搬来搬去？紧凑的尺寸设计节省了工作台的空间，可以将仪器搬运到不同的位置或者是寄运到不能采购分析仪的外部场所进行现场测试。
  • 快速的分析：高精度光学设计和演算法可以简单三步给出测量结果：点击按钮，加入样品，查看结果。仅十秒钟就可获得测量数据。
  • 强大的软件：LA-350使用和其他LA系列相同的功能齐全软件包，提供宽范围统计测量，数据分析和展示工具。
  • 简单的操作：自动校正，用于样品分散的内置超声系统，和强力泵水系统，结合软件的自动化特点，用LA-350分析样品非常简单。样品测量可一键操作。

优势

  • 操作灵活：宽尺寸范围和灵活的软件随时适应测量需求的改变。
  • 操作简单：通过在软件中创建方法和序列选项，使一键操作成为可能。
  • 快速分析：快速测量和分析，即刻得到答案。

LA-960激光粒度仪 - 高性能激光衍射分析仪


LA-960采用米氏散射（激光衍射）理论检测悬浮液或干粉的粒度。该技术的快速测量和简单操作等特点使它得到广泛应用。


LA-300 - 便携的高精度的激光散射粒度仪


概要

得到世界上用户很高评价的HORIBA的激光衍射/散乱式粒子径分布测定装置又有新模型LA-300登场了。HORIBA便携式集高精度、较大测定范围以及良好的操作性集于一身，适应以陶瓷和化学产品、粉末涂料、药品、加工食品等研究开发为目的的测定需求，此外还能够满足ISO-9000和医药品安全性试验以及制造标准的GLP/GMP等质量管理面的需求。

特征

保证高精度±1.4％。(在HORIBA指定条件中保证精度。) LA-300不管使用哪个装置进行测定，通常都能提供可靠性高的数据。经严密的性能检查而生产出来的LA-300，对应了需要进行严格粒径管理的前端需求 。

0.1～600μm的大量程。　实现了用明快的图表显示粒径分布。通过 HORIBA先进设计的光学系统，能够快速，高精度地捕捉到大角度的散射光分布数据。整个散射光强分布能够在LA-300的软件图表上明快地显示出来，各种粒径分布数据也能在图表上快捷地显示出来 。

LA-300大大提高了软硬件的易用性，诸如HORIBA独有的学习导航功能，印刷版面设计功能和自动调整功能等等许多便利的功能。

SZ-100系列纳米颗粒分析仪


概要

SZ-100系列纳米颗粒分析仪在描述小颗粒物理性质方面是灵活的分析工具。根据不同的配置和应用程序可以完成颗粒度的分析，zeta电位的检测，分子量（Mw）以及第二维利系数（A2）的测定。SZ-100的典型应用包括：纳米颗粒，胶体，乳液以及亚微米悬浮液。

颗粒分析仪采用动态光散射原理（DLS）。根据样品的物理性质，动态测量范围为0.3 nm – 8 ?m。检测范围的下限受到以下因素的影响：样品浓度、样品对光的散射强度以及大的杂质颗粒的存在。检测上限受样品浓度影响，因为DLS原理是颗粒的布朗运动而不是重力沉降。

SZ-100以颗粒表面电荷特性来检测悬浮液的zeta电位。将样品注入一次性样品池，通过颗粒电泳迁移率的结果计算zeta电位。 zeta电位通常是样品分散稳定性的一个指标。Zeta电位的数值较大表明颗粒带电较多，斥力较大，较难发生团聚，溶液保持稳定。通常根据pH值或其他化学参数的改变检测zeta电位以便于设计可长时间保存的产品。相反地，发现zeta电位为零时（就是说，样品处于等电点），就要考虑选择最佳条件将颗粒进行絮凝和分离。

SZ-100还可以用于检测蛋白质、聚合物及其他大分子的分子量和第二维利系数。用户准备几个已知浓度的溶液，然后使用系统的静态光散射模式绘制Debye曲线，从而计算出Mw和A2。

特征

  • 将粒度、zeta电位、分子量及第二维利系数的检测集于一身
  • 宽检测范围，宽浓度范围
  • 双光路双角度粒径测量（90° 和173°）
  • 多重粒径测量模式用于小颗粒和微弱散射光
  • 用于粒径和zeta电位检测的微量样品池
  • 自动滴定仪：可用于zeta电位测量过程中pH值的自动滴定

深圳市鸿永精仪科技有限公司为日本崛场（Horiba）激光粒度仪产品及光谱仪产品，中国区合法经销商。公司的技术团队能够给广大Horiba仪器使用客户，提供性价比更高的售后服务及仪器保养。咨询服务：400-9660-727/18665977891。





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