北京高低频介电常数测试仪

高低频介电常数测试仪 GCSTD-D 一、满足标准： GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法 GB/T1693-2007 硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法 ASTM D150/IEC 60250固体电绝缘材料的(恒久电介质)的交流损耗特性和介电常数的测试方法 二、试验方法： 接触法：适用于厚度均匀、上下表面平整、光滑材料 非接触法：适用于上下表面不平整、不光滑材料 电极类型：固定电极-测量电极φ38mm/φ50mm(标配电极1套，标配为38mm) 粉体电极-根据样品量可配专用电极 试样类型：固体、液体、粉体、膏体/规则物或者不规则物 三、性能特点 ■ 测试频率20Hz～2MHz，10mHz步进 ■ 测试电平10mV～5V, 1mV步进 ■ 基本准确度0.1% ■ 最高达200次/s的测量速度 ■ 320×240点阵大型图形LCD显示 ■ 五位读数分辨率 ■ 可测量22种阻抗参数组合 ■ 四种信号源输出阻抗 ■ 10点列表扫描测试功能 ■ 内部自带直流偏置源 ■ 外置偏流源至40A(配置两台TH1776)(选件) ■ 电压或电流的自动电平调整(ALC)功能 ■ V、I测试信号电平监视功能 ■ 图形扫描分析功能 ■ 20组内部仪器设定可供储存/读取 ■ 内建比较器,10档分选及计数功能 ■ 多种通讯接口方便用户联机使用 ■ 2m/4m测试电缆扩展(选件) ■ 中英文可选操作界面 ■ 可通过USB HOST 自动升级仪器工作程序 四、简要介绍 测试材料： 无源元件：电容器、电感器、磁芯、电阻器、压电器件、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数评估和性能分析。 半导体元件：变容二极管的C-VDC特性；晶体管或集成电路的寄生参数分析 其它元件：印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻抗评估 介质材料：塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估 磁性材料：铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估 半导体材料：半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性 液晶材料：液晶单元的介电常数、弹性常数等C-V特性 技术参数 测试参数 C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR 测试频率 20 Hz～2MHz,10mHz步进 测试信号电 f≤1MHz 10mV～5V,±（10%+10mV） 平 f>1MHz 10mV～1V,±（20%+10mV) 输出阻抗 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω 基本准确度 0.1% L 0.0001 uH ～ 9.9999kH C 0.0001 pF ～ 9.9999F R,X,Z,DCR 0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ 显示范围 Y, B, G 0.0001 nS ～ 99.999 S D 0.0001 ～ 9.9999 Q 0.0001 ～ 99999 θ -179.99°～ 179.99°