镀层测厚仪

技术指标：

测试对像：粉未、固体、液体
元素分析范围：钠（ 铀（
同时最多可测元素：36种
含量分析范围：1ppm～99.99%
工作稳定性：总荧光强度为0.1％
测试时间：60～200秒
探测器分辨率：127eV±5
进口高端（64位）DSP数字信号处理芯片
多道分析器：2048道
X射线光管：功率50W，靶材可选Ag、Rh、W、Mo
高压电源：电压范围0~50KV，稳定度每小时小于0.05%
外型尺寸：720mm×520mm×360mm(不包括支脚)
测量仓：590mm×400mm×120mm
重量：60Kg
最低检出限：Cd/Cr/Hg/Br≤1ppm,Pb/Sb/Se/Ba≤2ppm,Cl≤5ppm
可测镀层数：最多可达5层
镀层种类：单金属镀层、合金镀层
镀层识别精度：最薄可测试0.005μm。
厚度测试范围：轻金属（如：Ti、Cr等）0.01～50um
中金属（如：Ni、Cu、Zn、Pd、Ag、Sn等）0.01～30um
重金属（如：Pt、Au、Pb等）0.005～15um