厂商 ：珠海天创仪器有限公司
广东 珠海- 主营产品：
- 磁粉探伤仪
- 测振仪
- 膜厚仪
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商品详细描述
XP204分析天平/XP205分析天平/XP504超越系列至尊型分析天平
梅特勒-托利多的超越系列至尊型分析天平是分析天平领域中的又一里程碑。分析天平革命性的创新设计带来了前所未有的称量性能并为操作者、样品称量和数据管理的安全性设立了新的标准。
XP204超越系列至尊型分析天平
- 梅特勒-托利多采用红外感应器(SmartSense)，实现无需用手接触的称量操作：开关门、打印、去皮等
- 彩色智能触摸屏(SmartScreen)，实现安全，便捷的天平操作
- 网格秤盘(SmartGrid)，获得快速、准确称量结果
- 水平控制系统(LevelCControl), 在天平偏移水平位置时提供警告提示功能
- 易巧称量组件(ErgoClip)，满足使用不同容器的称量需求
- 用户管理工具(UserManagement)，可以独立设置操作者的使用权限
- MinWeigh最小称量值功能，提供符合规范的称量帮助(需要梅特勒-托利多客户服务工程师现场设置激活)
- 天平校验功能(BalanceCheck)，自动提示用户使用外置砝码校验天平,确保称量结果始终准确
- ProFACT专业级全自动校准技术，温度漂移和时间设置触发的内置砝码自动校准和全自动线性校准,获得精确称量结果
- 完全可拆卸、清洗的防风罩设计，实现快速清洁
- 高度可调节的内置防风罩，确保精确称量结果
- 可移动、分离的显示控制终端，方便天平使用
- 标配RS232通讯接口和一个可用于蓝牙、以太网、USB、LocalCan、RS232和PS/2通讯接口选件插槽，方便连接打印机、电脑等外围设备
- 显示屏塑料保护罩，避免散落样品的腐蚀
- 6种内置应用称量程序:简单称量、计件称量、百分比称量、密度测定、统计功能、公事称量
| 分析天平XP105DR | 0.01/0.1mg | 31/120g |
| 分析天平XP204 | 0.1mg | 220g |
| 分析天平XP205 | 0.01mg | 220g |
| 分析天平XP205DR | 0.01/0.1mg | 81/220g |
| 分析天平XP504 | 0.1mg | 520g |
| 分析天平XP504DR | 1/0.1mg | 101/520g |
XP204超越系列至尊型分析天平
| 分析天平最大称量值 | 120g |
| 分析天平精细量程的最大称量值 | 31g |
| 分析天平可读性 | 0.1mg |
| 分析天平精细量程的可读性 | 0.01mg |
| 分析天平重复性：正常加载(sd) | 0.06mg（100g） |
| 重复性：微量加载 | 0.05mg（10g） |
| 重复性：精细量程微量加载 | 0.015mg（10g） |
| 分析天平线性 | 0.15mg |
| 分析天平四角误差 | 0.2mg（50g） |
| 灵敏度漂移 | 4x10-6 |
| 灵敏度温度漂移（10-30°C） | 1x10-6/°C |
| 分析天平接口更新速率 | 23/s |
| 天平外型尺寸(W×D×H mm) | 263×486.5×322 |
| 分析天平秤盘尺寸(W×D mm) | 76×73 |
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