高温晶振品牌

KOAN 恒温晶振 OCXO 的负载效应概念

晶振的负载效应定义为空载输出相对频率与加额定负载后的输出相对频率之差。一般高稳晶振加电阻，高温晶振价格，电容，电感性负载后所引起的相对频率变化大约在 0.2ppb 左右，高温晶振，而恒温晶振的老化率一般也在 0.2ppb/天左右，因此需要设法改善负载效应，以保证负载变化时，高温晶振封装尺寸，振荡器有较高的频率准确度。而负载特性不好的一个主要原因是振荡电路的地线和电源线存在一定的阻抗。

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影响 KOAN 恒温晶振频率漂移（老化）的主要机理

1) 引起晶振频率漂移的是石英谐振器的参数，动态电容和动态电感随时间而变化；

2) 加在石英片的机械应力变化引起的频率漂移，称为驰豫效应；

3) 晶片表面污染和或封装盒内部污染也是造成谐振器老化的一个重要原因；

4) 流过谐振器激励电流的大小对老化率有影响；

5) 振荡电路和恒温控制电路中有源和无源元件的老化也会影响振荡频率的老化率。

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KOAN 恒温晶振的开机特性（频率稳定预热时间）

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指开机后一段时间(如 5 分钟)的频率到开机后另一段时间(如 1 小时)的频率的变化率。表示了晶振达到稳定的速度。这指标对经常开关的仪器如频率计等很有用。在多数应用中，晶体振荡器是长期加电的，然而在某些应用中晶体振荡器需要频繁的开机和关机，这时频率稳定预热时间指标需要被考虑到（尤其是对于在苛刻环境中使用的通讯电台，当要求频率温度稳定度≤0.3ppm(-45℃～85℃)，采用 OCXO 作为本振，频率稳定预热时间将不少于 5分钟。

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