X-ray膜厚仪

仪器配置                                            

1 硬件：主机壹台，含下列主要部件： 

(1)  X光管                     (2)  半导体探测器

(3)  放大电路                  (4) 高精度样品移动平台

(5)  高清晰摄像头              (6) 高压系统

(7)  上照、开放式样品腔         (8）双激光定位

(9)  玻璃屏蔽罩

2 软件：天瑞X射线荧光光谱仪FpThick分析软件V1.0

1）每天开机预热30分钟后打开测试软件“FpThick”：

用户使用“Administrator”，密码：skyray

2）进入测试软件后，选择“测试条件”

点击“确定”，即测试条件确定（仪器已设置好）

3）选择“工作曲线”

如待测样品是铁镀镍，则选择Ni-Fe；其他依次类推

4）放入“Ag片”对仪器进行初始化

初始化完成后，（峰通道为1105，计数率达到一定的数，如300以上）。

5) 待测样品测试

放入待测的样品，通过摄像头画面观察当前放入的样品的表面情况，以及仪器的X射线的聚焦点（由图中激光的红斑所示）。可以通过软件提供的十字坐标（也称十字光标）来定位该聚焦点，将样品放在聚焦点位置。点击“开始”，输入样品名称后“确定”。

6）测试完成后即可保持报告，报告的位置可以在桌面的“分析报告”快捷方式中的“镀层报告”中找到。

注意：测试镀层样品时，必须先要确定是什么镀层、选择好对应的工作曲线测试。