国产X荧光测厚仪

国产X荧光测厚仪仪器介绍

Think 600采用下照式结构，仪器操作简单，以实在的价格定位满足镀层厚度测量的要求。

应用领域

铁基----□Fe/Zn, □Fe/Cu，□Fe/Ni，□Fe/Cu/Sn，□Fe/Cu/Au，□Fe/Cu/Ni，  □Fe/Cu/Ni/Cr， □Fe/Cu/Ni/Au，□Fe/Cu/Ni/Ag

铜基----□Cu/Ni，□Cu/Ag，□Cu/Au，□Cu/Sn，□Cu/Ni/Sn，□Cu/Ni/Ag，□Cu/Ni/Au，                   □Cu/Ni/Cr

锌基----□Zn/Cu，□Zn/Cu/Ag，□Zn/Cu/Au

镁铝合金----□Al/Cu，□Al/Ni，□Al/Cu/Ag，□Al/Cu/Au

塑胶基体----plastic/Cu/Ni，plastic/Cu/Ni/Cr

技术参数  

1   分析元素范围：S-U

2   可分析多达3层以上镀层

3   分析厚度检出限最高达0.02μm

4   多次测量重复性最高可达0.05μm

5   定位精度：0.5mm

5   测量时间：30s-300s

6   计数率：1000-8000cps

7   仪器适合测试平面。以单层Fe镀Ni的标样为例，分析的范围是0.02—30um，在这个范围内，才能检测。0.5-10um的，偏差是5%，就是说真值是1um，用仪器测试的值是0.95-1.05um。