冲击试样缺口投影仪

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一、概述随着国内工业技术的发展，越来越多的行业已经开始执行《金属夏比冲击试验方法》该标准对试样要求相当严格，所以在整个试验过程中，试样的加工是否合格会直接影响最终的试验结果。如果试样加工质量不合格，那么其试验结果是不可信的，特别是试样缺口的微小变化可能会引起试验结果的巨大陡跳，尤其是在试验的临界值时，会引起产品的合格或报废两种截然相反的不同结局。为保证试样缺口的合格，其质量检验是一个重要的控制手段，目前，用光学投影放大检验是唯一切实可行的方法。XT-50型冲击试样投影仪是我公司根据广大用户的实际需要和GB/T299-1994《金属夏比冲击试验方法》中对冲击试样缺口的要求而开发的一种专用于检验夏比V型和U性型缺口加工质量的光学仪器，该仪器是利用光学投影方法将被测的冲击试样V型和U型缺口轮廓放大50倍后投射到投影屏上，与投影屏上的冲击试样V型和U型缺口标准样板图对比，以确定被检测的试样缺口是否合格。其优点是操作简便，对比直观。

二、工作原理：

本投影仪光源发出的光线经聚光镜照射到被测物体，再经物镜将被照射物体放大的轮廓投射到投影屏上。

根据需要，本仪器为单一投射照明，光源通过一系列光学元件投射在工作台上，再通过一系列光学元件将被测试样缺口轮廓清晰的投射到投影仪上。物体经二次放大和二次反射成正像，在投影屏上所看到的图形与实际试样放置的方位一致。

三、主要参数：

投影屏直径：

180mm

工作台尺寸：

方工作台尺寸：

110×125mm

圆工作台直径：

90mm

工作台玻璃直径：

70mm

工作台行程：

纵向：

±10mm

横向：

±10mm

升降：

±12mm（无刻度）

工作台转动范围：

0-360°（无刻度）

放大倍数：

仪器放大倍率：

50X

物镜放大倍率：

2.5X

投影物镜放大倍率：

20X

光源（卤钨灯）：

12V    100W

外形尺寸：

515×224×603mm（长×宽×高）

重量：

约18Kg