失效分析测试探针台

失效分析测试探针台，CH-8高倍率金相显微镜、1微米精度移动平台式分析探针台

型号： CL-6

特点：

* 适用6英寸各种半导体器件的高精度测试

*同轴驱动CHUCK

*可以升级做射频测试

*20X~2000X 光学显微放大

*无后座力移动

*可选择显微镜倾仰装置或者气动升降装置

型号： CH-8

特点：

* 适应8英寸各种半导体器件的高精度测试

* 舒适大手柄驱动CHUCK

* 20X~4000X 光学显微放大

* 无后座力移动

* 针座平台可以微调升降便于探针卡再定位

CINDBEST TFT-LCD激光修复仪

   根据客户TFT-LCD尺寸定激光修复仪尺寸，激光修复系统的品牌可以选择New Wave ,Hoya或者CINDBEST LP-IR/GRN 双波段激光。

CINDBEST精密控制系统

工作参数：

1、X轴行程1600mm,最小移动精度1μ

2、Y轴行程1000mm，最小移动精度1μ

3、Z轴行程50mm，最小移动精度1μ，Z轴最大承重20kg

4、R轴最大调节行程±5°最小调节精度0.01°

5、摇杆档位数量4档位，对应调节精度：1μ、10μ、100μ、1000μ

6、玻璃台面范围：1600*1000mm 最大承载30kg

7、电源输入：230V,50Hz