银包铜粉生产商

纳米铜粉成分的分析方法——电感耦合等离子体原子发射光谱ICP

ICP是利用电感耦合等离子体作为激发源，根据处于激发态的待测元素原子回到基态时发射的特征谱线对待测元素进行分析的方法。可进行多元素同时分析。很低的检测限。稳定性很好，精密度很高，定量分析效果好。对非金属元素的检测灵敏度低。如想了解更多铜粉的相关信息，大连铜粉，欢迎致电铜基粉体进行咨询，我们将会竭诚为您解答与服务。

铜粉的应用——陶瓷发热元件铜粉导电胶的使用方法

PTC陶瓷发热元件铜粉导电胶YK-1175应避免胶液与皮肤接触，若接触请立即使用酒精或CH3COCH3清洗，然后用肥皂和水清洗。

PTC陶瓷发热元件铜粉导电胶YK-1175需在通风、阴凉、干燥处密封保存；PTC陶瓷发热元件铜粉导电胶YK-1175保质期24个月，过期经试验合格，可继续使用。

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扫描电子显微镜 SEM(Scanning Electron Microscope)：

SEM用一束极细的电子束扫描样品，在样品表面激发出次级电子，氧化铜粉末，次级电子的多少与电子束入射角有关，即与样品的表面结构有关，次级电子由探测体收集，并被闪烁器转变为光信号，经光电倍增管和放大器转变为电信号控制荧光屏上电子束强度，得到与电子束同步的立体扫描图像。SEM反映的是样品表面结构。

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