球形铜粉

纳米铜粉材料的常用检测方法的介绍

射线衍射 XRD（X-ray diffraction）：

XRD测的是晶体结构，是定性用的，就是说确定这种物质是什么。也就是说，铜粉的价格，xrd可以测试化学键，知道化学键也就知道了元素组成。

XRD对材料进行X射线衍射，高纯铜粉，分析其衍射图谱，可以获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息，如物相分析，取向分析，点阵参数测定，缺陷以及相变的分析等。

XRD可以做定性，定量分析。即可以分析合金里面的相成分和含量，可以测定晶格参数，可以测定结构方向、含量，可以测定材料的内应力，材料晶体的大小等等。一般主要是用来分析合金里面的相成分和含量。

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纳米铜粉材料的常用检测方法的介绍

扫描电子显微镜 SEM(Scanning Electron Microscope)：

SEM用一束极细的电子束扫描样品，耐高温铜粉，在样品表面激发出次级电子，次级电子的多少与电子束入射角有关，铜粉，即与样品的表面结构有关，次级电子由探测体收集，并被闪烁器转变为光信号，经光电倍增管和放大器转变为电信号控制荧光屏上电子束强度，得到与电子束同步的立体扫描图像。SEM反映的是样品表面结构。

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不同粒度间隔的颗粒占粉体总量的百分数（或累积百分数）称为频率粒度分布（或累积粒度分布），其纵坐标为不同基准计算的粒度组成，可以是个数、长度、面积、体积的百分数或累积百分数，其横坐标为不同基准计算的粒度值。D10、D50、D90可反映粉体的均匀程度，也叫粉体的累积分布。如想了解更多铜粉的相关信息，欢迎致电铜基粉体进行咨询。

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