电镀测厚仪

一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(CI)- 铀(U)   厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层，24种元素 厚度检出限:0.005um

用转移法测量塑胶产品上涂层时注意事项：

由于对塑胶产品上涂层的测量，电镀测厚仪，如使用超声波发测量时，经常因涂层与基材发生相溶而没有较好的声波反射面，从而导致测量失败或读值严重偏差。如使用切锲法，也多有使用不方便和读数困难的地方。所以目前便携式电子产品生产厂普遍使用转移法测量塑胶产品上涂层，先在产品上盖若干小条标准厚度的聚酯薄膜，再用纸基美纹胶压住两头，留出中间部分。将该产品放入喷涂线上正常喷涂、烘烤。

江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们专业的研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名专家通力合作，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪

一六仪器  X荧光光谱测厚仪

镀层分析X射线荧光光谱特点

     1.镀层分析快速、无损，镀层测厚仪，对样品无需任何处理。一般测试一个点只需要数10S-1分钟，分析精度高。

     2.可测试超薄的镀层。

     3.可测试多镀层，常州测厚仪，分析精度远远高于其他测量方法。

     4.可分析合金镀层厚度。如果合金镀层成分稳定，选择合适的对比分析样品，就可以准确的分析出合金镀层的厚度。

     5.对于样品可进行连续多点测量，适合分析镀层的厚度分布情况，并可以对样品的复杂面进行测量。

     6.对分析的多镀层每层之间的材料，要求有明显的区别

     7.不可以测试超厚样品，普通金属镀层总厚度一般不超过40微米。

     8.可以对极小样品进行测试

     9.属于对比分析仪器，测试不同的镀层样品需要不同发镀层标样

一六仪器 专业测厚仪 多道脉冲分析采集，先进EFP算法  X射线荧光镀层测厚仪

应用于电子元器件，LED和照明，家用电器，通讯，汽车电子领域.EFP算法结合精准定位决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题

镀层厚度分析仪的测量方法主要有：楔切法，涂层测厚仪，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等等。这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。

X射线和β射线法是无接触无损测量，测量范围较小，X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆

层测厚时采用。

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