FE3000膜厚仪

大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价?检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源?照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价?检查。欢迎新老客户来电咨询！

半积分球。大塚电子独有专利，提高积分球测试效率一倍，更易于样品的装夹，切换迅速（世界范围内独i家）；(2)多次激发修正。大塚电子独有专利，FE膜厚仪，最i大程度降低样品所反射的激发光再次照射样品带来的多次激发， 对粉末和固体测试精度提高明显（世界范围内独i家）；(3)光谱可扩展，FE， 光谱探测范围可扩展至1700nm甚至2550nm.(4) 可以升级配备控温系统（-30℃-300℃）

大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价?检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源?照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价?检查。欢迎新老客户来电咨询！

基本规格

(1) 测试样品及环境

(a) 样品：粉状样品

(2) 仪器的功能

(a) 激发荧光样品，对荧光光谱进行测试。

(b) 为了消除积分球内反射的激发光而激发的荧光，配有“再激发修正”功能。

(c) 具有对样品的量子效率、反射、吸收作测试的功能。

(d) 样品设置采用手动方式。

(e) 可实现控温和量子效率测试同步进行的功能。

(3) 仪器的构成

(a) 暗箱内部置有积分球光学系统。

(4) 温控单元

(a) 50 ℃～300℃(cell部分)

(b) 采用加热器加热、风冷制冷。

(c) 温控部分的周围采用冷却水循环、断热。

(d) 控制用温度探头是一个具备独立的防止过度升温的温度探头。

本仪器是一套使用积分半球对薄膜状样品或粉状物样品进行量子效率测试的系统。

     原理为：利用单色仪和氙灯的组合可实现任意波段的激发光并以此来照射荧光材料样品，FE-3000，再以光谱仪对产生的发光光谱进行测试并对其荧光材料特性做出评价。本系统采用了具有高灵敏度、高稳定的本公司的光谱仪对光谱进行测量。

光纤在极度弯曲后会有可能发生断裂。故，大塚FE3000，请将弯曲半径保持在10cm以上(即:不要过于折叠光纤，以免损坏).将样品放入样品放置cell内，然后放入积分半球内。

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