钢板测厚仪

江苏一六仪器    X荧光光谱测厚仪  专业涂镀层测厚

应用领域：广泛应用于线路板、引线框架及电子元器件接插件检测、镀纯金、K金、铂、银等各种饰品的膜层成分和厚度分析、手表、精密仪表制造行业、

钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNdB、汽车、五金、电子产品等紧固件的表面处理检测、卫浴产品、装饰把手上的Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)、电镀液的金属阳离子检测。

一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(CI)- 铀(U)   厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层，24种元素   厚度检出限:0.005um

江苏一六仪器   X荧光光谱测厚仪 优点    

X射线荧光能谱仪没有复杂的分光系统，结构简单。X射线激发源可用X射线发生器，测厚仪，也可用放射性同位素。能量色散用脉冲幅度分析器。探测器和记录等与X射线荧光光谱仪相同。

    X射线荧光光谱仪和X射线荧光能谱仪各有优缺点。前者分辨率高，钢板测厚仪，对轻、重元素测定的适应性广。对高低含量的元素测定灵敏度均能满足要求。后者的X射线探测的几何效率可提高2～3数量级，灵敏度高。可以对能量范围很宽的X射线同时进行能量分辨(定性分析)和定量测定。对于能量小于2万电子伏特左右的能谱的分辨率差。

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  X射线荧光光谱分析可以非破坏性同时完成组分和厚度测试，厚度的测量范围视材料和元素而定，通常在1nm-50um之间。X射线荧光光谱法分析镀层与其常规定量分析法相比较，镀层测厚仪，被测元素的特征X射线荧光强度不仅与镀层中待测元素和基材的组成有关，而且与厚度直接相关。能量色散X射线荧光光谱分析相对其他分析方法，具有无需对样品进行特别的化学处理、快速，锡膏测厚仪，方便，测量成本低等明显优势，特别适合用于各类相关企业作为过程控制和检测使用。是目前应用最为广泛，具有速度快、无损化以及可实现多镀层同时分析等特点。

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