钢板测厚仪

一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(CI)- 铀(U)   厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层，电解测厚仪，24种元素 厚度检出限:0.005um

镀层厚度分析仪根据测量原理一般有以下五种类型:

1.磁性测厚法

适用导磁材料上的非导磁层厚度测量。导磁材料一般为：钢、铁、银、镍。此种方法测量精度高。

2.涡流测厚法

适用导电金属上的非导电层厚度测量。此种方法较磁性测厚法精度低。

3.超声波测厚法

目前国内还没有用此种方法测量涂镀层厚度的，钢板测厚仪，国外个别厂家有这样的仪器，适用多层涂镀层厚度的测量或则是以上两种方法都无法测量的场合。但一般价格昂贵，测量精度也不高。

4.电解测厚法

此方法有别于以上三种，不属于无损检测，需要破坏涂镀层。一般精度也不高。测量起来较其他几种麻烦。

5.放射测厚法

此种仪器价格昂贵，适用于一些特殊场合。

江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。

X射线荧光光谱仪是基于X射线荧光光谱法而进行分析的一种常见分析仪器。通常认为X神仙区域0.01-10nm之间的一段电磁波谱，短波边以伽马射线为界，长波边与真空紫外线区域的实际界线。

X射线荧光光谱仪特点

1、一种真正意义上 的无损分析，在分过程中不会改变样品的化学形态。具有不污染、节能低耗等优点。

2、分析速度快，无须进行样品预处理，升值无须样品的制备，X射线荧光光谱分析可以筛选大量的样品。一般情况下检测在3分钟以下。

3、自动化程度高。

4、可以同时测定样品中的多种元素。

5、随着分析技术的发展，仪器可以满足很多行业的需求。如：地质矿产，冶金、化工、材料、石油勘探、考古、合金、土壤、镀层等诸多行业。

6、样品的形态广。

7、X射线荧光光谱仪分为波长色散谱仪和能量色散谱仪可以满足各行个元素的需求。

8、X射线荧光光谱仪中的能量色散仪是低分辨率光谱仪已是在线分析的选择仪器之一。

    一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

   元素分析范围:氯(CI)- 铀(U)   厚度分析范围:各种元素及有机物

   一次可同时分析:23层镀层，24种元素   厚度检出限:0.005um

     X射线荧光光谱测厚仪   X射线的产生  

X射线波长略大于0.5纳米的被称作软X射线。波长短于0.1纳米的叫做硬X射线。

产生X射线的最简单方法是用加速后的电子撞击金属靶。撞击过程中，电子突然减速，其损失的动能(其中的1%)会以光子形式放出，形成X光光谱的连续部分，称之为制动辐射。通过加大加速电压，电子携带的能量增大，则有可能将金属原子的内层电子撞出。于是内层形成空穴，外层电子跃迁回内层填补空穴，测厚仪，同时放出波长在0.1纳米左右的光子。由于外层电子跃迁放出的能量是量子化的，覆层测厚仪，所以放出的光子的波长也集中在某些部分，形成了X光谱中的特征线，此称为特性辐射。

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