x荧光测厚仪原理

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电子元件测厚仪

一次性同时分析：23层镀层，24种元素

厚度最di检出限：0.005um

最xiao测量面积:0.002m㎡

对焦距离：0-90（测试凹槽，可变焦）

样品腔尺寸：500mm*360mm*215mm

仪器尺寸：550mm*480mm*470mm

仪器重量：55kg

影响膜厚仪测量的的客观因素

应力的影响。在役设备、管道大部分有应力存在，固体材料的应力状况对声速有一定的影响，荧光测厚仪，当应力方向与传播方向一致时，若应力为压应力，则应力作用使工件弹性增加，声速加快；反之，若应力为拉应力，x荧光测厚仪原理，则声速减慢。当应力与波的传播方向不一至时，膜厚仪波动过程中质点振动轨迹受应力干扰，波的传播方向产生偏离。根据资料表明，一般应力增加，声速缓慢增加。

江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们专业的研发团队具备十年以上的从业经验，荧光测厚仪，经与海内外多名专家通力合作，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪。稳定的多道脉冲分析采集系统、先进的解谱方法和EFP算法结合精准定位及变焦结构设计，x射线荧光镀层测厚仪，解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题。

镀饰，首饰类镀层分析通用型测厚仪

仪器配置

微聚焦X射线装置

信号放大器

微型移动滑轨

十二元素片

标准片Ni/Fe 5um

为什么膜厚仪有时测量不准确?

强磁场的干扰。我们曾做过一个简单实验，当仪器在1万V左右的电磁场附近工作时，测量会受到严重的干扰。如果离电磁场非常近时还有可能会发生死机现象。

江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。拥有先进的技术，好的良将，严格的企业管理是公司得以不断发展壮大、产品能够赢得客户信赖的根本所在。一六仪器、一liu品质，各种涂镀层、膜层的检测难题欢迎来电咨询！

膜厚仪也叫X射线测厚仪，它的原理是物质经X射线或粒子射线照射后，由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态，此物质必需将多余的能量释放出来，而此时是以荧光或光的形态被释放出来。荧光X射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度，来进行定性和定量分析。

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