厚度测量膜厚仪

江苏一六仪器   X射线电子元件膜厚仪

膜厚仪的影响因素有哪些

1、基体金属厚度

每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，射线膜厚仪，测量就不受基体金属厚度的影响。

2、边缘效应

本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。

3、曲率

试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此，在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。

4、试件的变形

测量头会使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上测出可靠的数据。

江苏一六仪器  电子元件测厚仪

元素分析范围：氯（CI）-铀（U）

厚度分析范围：各种元素及有机物

一次性同时分析：23层镀层，24种元素

厚度最di检出限：0.005um

最xiao测量面积:0.002m㎡

对焦距离：0-90（测试凹槽，可变焦）

样品腔尺寸：500mm*360mm*215mm

磁性膜厚仪

磁性膜厚仪主要是通过磁性测厚法检测涂镀层厚度的，膜厚仪，超声波测厚仪使用磁性测厚法可测铁、钢导磁金属上面的所有非导磁金属和所有非导电层的厚度，电镀膜厚仪，如铁上镀铜、锌、铬、金、银等，涂的油漆、塑料、橡胶、磷化膜、玻璃钢等。 涡流层层测厚仪可以测量非导磁导电金属上面非导电涂层的厚度，如不锈钢、铜、沧州欧谱铝金属上的油漆层、氧化膜、磷化膜、玻璃钢、橡胶等涂层的厚度。

江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。拥有先进的技术，优质的良将，能够应付各种涂镀层、膜层的检测难题欢迎来电咨询！

五金紧固件类镀层膜厚仪

微聚焦X射线装置

信号放大器

微型移动滑轨

十二元素片

标准片Ni/Fe 5um

标准片Au/Ni/Cu 0.1um/2um

2.偶然误差的来源

与样品成分不均匀有关的误差。因为光电光谱分析所消耗的样品很少，样品中元素分布的不均匀性、组织结构的不均匀性，导致不同部位的分析结果不同而产生偶然误差。主要原因如下：

(1)熔炼过程中带入夹杂物，厚度测量膜厚仪，产生的偏析等造成样品元素分布不均。

(2)试样的缺陷、气孔、裂纹、砂眼等。

(3)磨样纹路交叉、试样研磨过热、试样磨面放置时间太长和压上指纹等因素。

(4)要减少偶然误差，就要精心取样，消除试样的不均匀性及试样的铸造缺陷，也可以重复多次分析来降低分析误差。

电镀膜厚仪-膜厚仪排名-膜厚仪由江苏一六仪器有限公司提供。江苏一六仪器有限公司（www.16elite.com）位于江苏省昆山市玉山镇成功路168号。在市场经济的浪潮中拼博和发展，目前一六仪器在专用仪器仪表中拥有较高的知名度，享有良好的声誉。一六仪器取得全网商盟认证，标志着我们的服务和管理水平达到了一个新的高度。一六仪器全体员工愿与各界有识之士共同发展，共创美好未来。