镀层膜厚仪

江苏一六仪器有限公司研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪，稳定的多道脉冲分析采集系统、先进的解谱方法和EFP算法结合精准定位及变焦结构设计，解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题。

超微电子元器件芯片高精度镀层测厚仪

元素分析范围：氯（CI）-铀（U）

厚度分析范围：各种元素及有机物

一次性同时分析：23层镀层，24种元素

厚度最di检出限：0.005um

为什么膜厚仪有时测量不准确?

人为因素。这种情况经常会发生在新用户的身上。膜厚仪之所以能够测量到微米级就因为它能够采取磁通量的微小变化，并把它转化成为数字信号。在使用仪器测量过程中如果用户对本仪器不熟悉就可能使探头偏离被测机体，x荧光光谱膜厚仪，使磁通量发生变化造成错误测量。所以建议用户朋友初次使用本仪器时，要先掌握好测量方法。

江苏一六仪器   线路板PC板类镀层分析通用型测厚仪

技术参数

厚度分析范围：各种元素及有机物

一次性同时分析：23层镀层，24种元素

厚度最di检出限：0.005um

最xiao测量面积:0.002m㎡

对焦距离：0-90（测试凹槽，可变焦）

样品腔尺寸：500mm*360mm*215mm

膜厚仪的工作原理

涂镀层测厚仪的相关工作原理之近年来的电路设计引入稳频、锁相、温度补偿等地新技术，利用磁阻来调制丈量信号。还采用专利设计的集成电路，电镀膜厚仪，引入微机，使丈量精度和重现性有了大幅度的进步(几乎达一个数目级)。现代的磁感应测厚仪，镀层膜厚仪，分辨率达磁感应测厚仪_电涡流丈量原理_磁吸力丈量原理及测厚仪_电涡流原理的测厚仪到0.1um，答应误差达1%，量程达10mm。

 江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。!各种涂镀层、膜层的检测难题欢迎咨询联系！

微聚焦射线管、先进的光路设计，膜厚仪，以及变焦算法装置，可测试极微小和异形样品

如果膜厚测试仪已经进行了适当的校准，所有的测量值将保持在一定的误差范围内；根据统计学的观点，一次读数是不可靠的。因此任何由膜厚测试仪显示的测量值都是五次“看不见”的测量的平均值。这五次测量是在几分之一秒的时间内由探头和仪器完成的。

一六仪器(图)-x荧光光谱膜厚仪-膜厚仪由江苏一六仪器有限公司提供。江苏一六仪器有限公司（www.16elite.com）位于江苏省昆山市玉山镇成功路168号。在市场经济的浪潮中拼博和发展，目前一六仪器在专用仪器仪表中拥有较高的知名度，享有良好的声誉。一六仪器取得全网商盟认证，标志着我们的服务和管理水平达到了一个新的高度。一六仪器全体员工愿与各界有识之士共同发展，共创美好未来。