涂层厚度仪

江苏一六仪器   X射线荧光镀层测厚仪

仪器简介

      XTU系列测厚仪虽然结构紧凑，但是都有大容量的开槽设计样品腔，即使超过样品腔尺寸的工件也可以测试。

    搭配微聚焦射线管和先进的光路设计，以及变焦算法装置，可测试极微小和异形样品。

    检测78种元素镀层·0.005um检出限·测量面积可达0.002mm2·最深凹槽可达90mm。

     外置的高精密微型滑轨，测厚仪，可以快速控制样品移动，移动精度0.005mm，测厚仪器价格，速度10-30mm（X-Y）/圈，再小再多的样品测试都没有难度，镀锌层测厚仪，让操作人员轻松自如。

应用领域

  线路板、引线框架及电子元器件接插件检测

  镀纯金、K金、铂、银等各种饰品的膜层成分和厚度分析

  手表、精密仪表制造行业

  钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNdB        

  汽车、五金、电子产品等紧固件的表面处理检测

  卫浴产品、装饰把手上的Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)

  电镀液的金属阳离子检测

      江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们专业的研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名专家通力合作，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪

      X射线荧光光谱测厚仪定量分析

利用荧光X射线进行定量分析的时候，大致分为3个方法。一个是制作测量线的方法(经验系数法)。这个方法是测定几点实际的已知浓度样品，寻求想测定元素的荧光X射线强度和浓度之间的关系，以其结果为基础测定未知样品取得荧光X射线，从而得到浓度值。

      另一个方法是理论演算的基础参数法(FP法)。这个方法在完全了解样品的构成和元素种类前提，利用计算的各个荧光X射线强度的理论值，涂层厚度仪，推测测定得到未知样品各个元素的荧光X射线强度的组成一致。

江苏一六仪器  X射线荧光镀层测厚仪

性能优势：

   下照式设计：可以快速方便地定位对焦样品。

   无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测，凹槽深度范围0-90mm。

   微聚焦射线装置：可检测面积小于0.002mm2的样品，可测试各微小的部件。

   jie shou 器：即使测试0.01mm2以下的样品，几秒钟也能达到稳定性。

   EFP先进算法软件：多层多元素，甚至有同种元素在不同层也难不倒EFP算法软件。

统计计算功能平均值、标准偏差、相对标准偏差、max值、min值、数据变动范围、CP、数据编号、CPK、控制上限图、控制下限图数据分组、X-bar/R图表直方图数据库存储功能

-系统安全监测功能Z轴保护传感器样品室门开闭传感器操作系统多级密码操作系统:操作员、分析员、工程师-任选软件统计报告编辑器允许用户自定义多媒体报告书液体样品分析，如镀液中的金属元素含量材料鉴别和分类检测材料和合金元素分析贵金属检测。

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