测厚仪标准片

镀层标准片产品介绍：

镀层膜厚标准片又名膜厚仪校准片，专业用于测厚仪（膜厚仪）在测金属镀层厚度的时候进行标准化校准.也就是我们在膜厚测试中常用的标准曲线法，是测量已知厚度或组成的标准样品，根据荧光X-射线的能量和强度及相应镀层厚度的对应关系，来得到标准曲线。之后以此标准曲线来测量未知样品，以得到镀层厚度或组成比率。对于PCB，标准片，五金电镀，xray测厚仪标准片，半导体等行业使用测厚仪来检测品质和控制成本起到了很重要的作用。

使用标准片进行电解测厚仪校正具有如下意义：

标准校正是为了补正每个单位面积的电解量，来校正橡胶测头的电解面积、电解液的效率劣化、定点流装置的变化等。主要还是使用于橡胶测头的电解面积的补正。校正时请使用所购买的附属品标准片Ni/Fe来执行。由于橡胶测头为橡胶制品，因此根据电解液或者电解过程中生成的物质，使用多次后会引起老化现象，使得电解面积产生变化，因此加在每个单位面积上的电流值的变化，也使要电解的时间改变了。通过利用校正来让每个单位面积上通过一定的电流，为此一定要进行和实际镀层一样的标准片（或不一样的标准片）的校正。

标准片分类

1.薄膜片，测厚仪标准片，单层测量品种：镍（Ni）；铬（Cr）；铜（Cu）；锌（Zn）；Cd（镉）；锡（Sn）；银（Ag）；金（Au）；钯(Pd)等，其它镀层可定制.

2.镀层标准片：双镀层：Au/Ni/xx，三镀层：Au/Pd/Ni/xx等.

3.合金标准片：合金镀层测量：Sn-Pb、Cu-Zn、Zn-Ni、Ni-P等.

4.测量厚度范围：0.01~300μm.

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