镀层测厚仪报价

     一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(CI)- 铀(U)   厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层，24种元素   厚度检出限:0.005um

   江苏一六仪器  X荧光测厚仪测试要求：

工作要求：

1 环境温度要求：15℃-30℃

2 环境相对湿度：<70%

3 工作电源：交流220±5V

4 周围不能有强电磁干扰。

5 Max功率 ：330W

6 外形尺寸 ：550 mm x 480mm x 470 mm （长x宽x高）

7 样品仓尺寸 ：500mm×360 mm ×215mm （长x宽x高）

8 仪器重量 ：55kg

9 分析软件EFP，可同时分析23层镀层，24种元素，不同层有相同元素也可分析

10 软件操作人性化封闭软件，自动提示校正和步骤，避免操作错误

11 X射线装置：W靶微聚焦加强型射线管

江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们专业的研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名专家通力合作，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪

X射线荧光光谱分析仪结构及组成：用X射线照射式样时，试样可以被激发出各种波长的荧光X射线，镀层测厚仪报价，需要把混合的X射线按波长（或能量）分开，分别测量不同波长（或能量）的X射线的强度，以进行定性和定量分析，为此试用的仪器叫X射线荧光光谱仪。由于X光具有一定的波长，X射线测厚仪，同事又有一定能量，测厚仪排名，因此，X射线荧光光谱仪有2种基本类型：波长色散型（WD）和能量色散性（ED）。

波长色散型是由色散元件将不同波长的特征X射线衍射到不同的角度上，探测器需移动到想要的位置上来探测某一波长能量的射线。而能量色散型，是由探测器本身的能量分辨本领直接探测X射线的能量。波长色散型谱线分辨本领高，而能量色散型可同时测量多条谱线的能量。

江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。我们专业的研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名专家通力合作，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪。稳定的多道脉冲分析采集系统、先进的解谱方法和EFP算法结合精准定位及变焦结构设计，解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题

目前，金属镀层常用的分析方法有湿化学电解分析、辉光放电---发射光谱分析（GD-OES）和X射线荧光光谱仪等。湿化学电解分析需选用适当溶剂溶解选定的镀层，逐层溶解并进行测定，方法准确但费时费力，测厚仪，尤其是相关特定溶剂的选择也非常复杂，价格又贵，属于典型破坏性样品检测，测量手段手段繁琐，速度慢，电解液耗损大，目前一般很少应用。GD-OES方法用惰性原子逐层轰击及剥离试样表层，再用发射光谱测定，这种方法可实现剖面或逐层分析，但测量重复性并不理想。

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