精密测厚仪

     x射线荧光镀层测厚仪（国产）是一款针对金属电镀层（镀金、镀镍、镀锌、镀锡等）厚度的，通过X荧光照射出产品，每个元素反射出的二次特征谱线，通过检测器分析出强度来金属镀层的厚度，完全达到无损、快速分析的效果，产品广泛应用于电子电器、五金工具、电镀企业（铝平行管、电镀五金），PCB镀层测厚仪，连接器企业、开关企业等。

x射线荧光镀层测厚仪性能优势

采用高度定位激光，可自动定位测试高度

定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求

高分辨率探头使分析结果更加精准

良好的射线屏蔽作用

测试口高度敏感性传感器保护

minimum  φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求

高精度移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm

鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点x射线荧光镀层测厚仪技术参数

minimum φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求

一次可同时分析多达五层镀层

度适应范围为15℃至30℃

镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）

分析含量一般为2ppm到99.9%

常规镀层厚度分析仪的原理

对材料表面保护、装饰形成的覆盖层，如涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等，在有关国家和国际标准中称为覆层（coating）。覆层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要一环，是产品达到优等质量标准的必备手段。为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对覆层厚度有了明确的要求。

覆层厚度的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X光测厚仪，X射线荧光法，精密测厚仪，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等。

同样，L层电子被逐出可以产生L系辐射。如果入射的X 射线使某元素的K层电子激发成光电子后L层电子跃迁到K层，此时就有能量ΔE释放出来，且ΔE=EK-EL，测厚仪，这个能量是以X射线形式释放，产生的就是Kα 射线，同样还可以产生Kβ射线 ，L系射线等。莫斯莱(H.G.Moseley) 发现，荧光X射线的波长λ与元素的原子序数Z有关，其数学关系如下: λ=K(Z-s)-2 这就是莫斯莱定律，式中K和S是常数，因此，只要测出荧光X射线的波长，就可以知道元素的种类，这就是荧光X射线定性分析的基础。此外，荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此，可以进行元素定量分析。
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