XRAY膜厚仪

膜厚仪一般来说和涂层测厚仪是一类产品。

膜厚仪一般是测氧化膜层厚度，常见的铝基，铜基氧化，测量时候用涂层测厚仪选择N（非磁性）探头，这样测铝基等氧化层也称为膜厚仪。

涂层测厚仪正常情况下有两种测量原理，配F合N探头，X荧光膜厚仪，或者FN一体探头。氧化层一般是几微米到十几微米，但是普通的涂层测厚仪误差比较大，需要用高精度的涂层测厚仪测量氧化层，比如中科朴道的PD-CT2涂层测厚仪就可以测量氧化层。

江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。拥有先进的技术，优质的良将，能够应付各种涂镀层、膜层的检测难题欢迎来电咨询！

膜厚测试仪的此类校准适用于N型测头，并使用特殊的校准标准片。

1.必须使用一试片法。

2.使用标有“铜上镀铬”字样的特殊标准片。

说明：在温度变化极大的情况下，如冬季或盛夏在室外操作时，应在与待测箔厚度接近的标准片上进行校准。校准时的环境温度应与使用时的环境温度一致。

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在生产过程中如何选择膜厚仪呢?

首先取决于你所测产品的结构.如果只是简单的涂层，膜厚仪，铜箔使用普通的膜厚仪就可以解决了.如：铜箔测厚仪，涂层测厚仪.

如果测电镀层的厚度，而且具有几层镀层，那么就要使用x-射线膜厚仪.单镀层厚度大于0.5um的还可以采用金相法观察。

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