X荧光膜厚仪

膜厚测量仪探头使用问题

在检测胶片厚度的过程中经常发现芯的磨损更厉害，有些可以说是严重损坏。

首先，磨损作为探针在使用中是一种正常现象。但是，如果用户注意他们的特点，他们的服务寿命将延长。常见的问题是，在测量中，由于向下的测试，用户倾向于较低地tui下桥墩，并且很容易引起探头头部的故障很长一段时间。

使用探针的正确方法是将探针轻轻地压在被测工件的一厘米表面上，因为探针在设计中建立了一个感应压力弹簧，只是轻轻按压。

另一点，在反复运动的过程中探测，容易敲击、碰撞和碰撞其他物体，膜厚仪，也容易造成头部损坏，沧州欧谱，因此如果工作条件允许，测量头可以固定，工件将被测量到接触。CT探头，从而减少探头凸点。在另一种情况下，XRAY测厚仪膜厚仪，每当测量一个点时，有必要在不拉平的情况下提起探头，以减少芯部的磨损。

最后，探头必须远离强磁场，以免改变探头的固有频率，全自动测厚仪膜厚仪，使探头无法工作。适当的操作将延长仪器的使用寿命。

膜厚测试仪操作步骤：

 1、开1机前的检查： ①检查电源线路是否连接好。②检查样品表面是否洁净。 

2、开机：1 ①打开电脑。②打开仪器主体电源开关'POWER'。③点击桌面'ExWin'软件程序。 ④ 打开X光电源开关(钥匙开关)，点击提示'确定'。⑤进行能谱校正(自动，30秒)，暖机30分钟。

 3、测量： ①点击'测量'选择相应的测量条件。②打开样品出入窗，X荧光膜厚仪，将样品放置于载物台上。③用控制器调整载物台在测试室内的位置。④将样品在视频中调节至最清晰。⑤点击'测量(F2)'进行测量。⑥ 每个镀层测量点需在相近位置测试三个数据。

膜厚仪的影响因素有哪些

1、基体金属厚度

每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响。

2、边缘效应

本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。

3、曲率

试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此，在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。

4、试件的变形

测量头会使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上测出可靠的数据。

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