薄膜高精测厚仪广州广东

技术参数：
测量范围：0.65～400mm（钢）
测量精度：0.01mm、0.1mm
测量误差：0.5%+0.03mm
材料声速：508～18699m/s
扫描速度：2次/秒～20次/秒
频率带宽：1～10MHz
管材测量下限：（取决于探头）
Φ15mm×1.0mm(7.5MHz，Φ6mm的探头)
显示方式：128×64点阵液晶屏
工作电源：双节AA(5号)电池
工作时间：280小时（自动模式）
100小时（背光打开）
外形尺寸：136（L）×72（W）×20（H）mm
重量：176g（含电池）
工作温度：-10~50℃（可测量最高温300℃材料物质，需另选探头）
广州东儒专业提供薄膜高精度测厚仪，DR86测厚仪，国际品质 薄膜、箔片、薄片等厚度的高精度测定，DR86超声波测厚仪测量范围最小：0.65mm，可根据材料粗晶粒及温度高低选择不同的探头..欢迎来电咨询：18022472052彭小姐 020-28852092 QQ：1916130320
广州东儒DR86超声波测厚仪是由广州东儒电子厂商研发生产提供的一款用于测量金属，塑料，陶瓷，橡胶，玻璃等具有超声波良导体材料的厚度，测量范围最小：0.65mm，可根据材料粗晶粒及温度高低选择不同的探头，可以多种实用测量模式：标准测量模式，最大值测量模式，最小值测量模式，差值测量模式，人性化数据保存模式：可分组保存数据，可选择每组保存数据量，无需保存每个测量数据，简化操作；