xray膜厚仪

膜厚仪的影响因素有哪些

1、基体金属磁性质

磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响(在实际应用中，xray膜厚仪，低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的)，为了避免热处理和冷加工因素的影响，膜厚仪，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准;亦可用待涂覆试件进行校准。

2、基体金属电性质

基体金属的电导率对测量有影响，而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。

江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。拥有先进的技术，优质的良将，能够应付各种涂镀层、膜层的检测难题欢迎来电咨询！

影响膜厚仪测量的的客观因素

金属表面氧化物或油漆覆盖层的影响。金属表面产生的致密氧化物或油漆防腐层，虽与基体材料结合紧密，膜厚仪校准，无名显界面，但声速在两种物质中的传播速度是不同的，从而造成膜厚仪的误差，膜厚仪校准片，且随覆盖物厚度不同，误差大小也不同。

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膜厚测试仪的此类校准适用于N型测头，并使用特殊的校准标准片。

1.必须使用一试片法。

2.使用标有“铜上镀铬”字样的特殊标准片。

说明：在温度变化极大的情况下，如冬季或盛夏在室外操作时，应在与待测箔厚度接近的标准片上进行校准。校准时的环境温度应与使用时的环境温度一致。

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