表面电阻和表面电阻率使用说明

满足标准：电线电缆电性能试验方法第2部分：金属材料电阻率试验

   本测试装置是根据国标GB3048.2—2007的规定而研制成功的，是测定电线电缆金属导体电阻率性能的装置，其性能完全符合GB3048.2—2007技术要求，是集电子技术、微处理机、自动检测技术和新型样品夹持装置于一体的智能化高新技术产品，解决了传统检测中由于单臂双臂电桥而产生的操作繁琐，平衡费时，人工计算、工作效率低等问题，采用了先进的高精度的电流—电压降四端子测量法，消除了连接导线电阻和接触电阻所带来的误差，可以高精度地测定实心铜铝及其合金导体材料的体电阻率，质量电阻率以及单位长度电阻。

   本测试装置为综合性测试系统，设计为测试台结构，主要由先进的多功能样品夹具，高精度数字电压表、宽量程高稳定直流恒定电流源，微处理机系统等部分组成，多功能样品夹具由特殊导电合金精密加工而成，接触良好，导电性能好，具有定位精度高等特点，适合用于从φ1mm—φ40mm宽范围导体的调节和夹持，高精度数字电压表灵敏度高、测量范围由0.1μV—2V，精度达0.05%，用240*128液晶屏显示。

  本装置具有测试精度高、操作方便，屏幕显示、人机对话、自动进行数据处理打印等特点，适合于各电线电缆厂，合金材料厂、高等院校、科研单位对金属导体材料的研究和检测之用，可测量导线每米长度电阻、体电阻率和质量电阻率。

探头选配：根据不同材料特性需要，表面电阻和表面电阻率查询，探头可有多款选配。有高耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；也有球形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配专用探头，也可测试电池极片等箔上涂层电阻率方阻。      《四探针探头特点与选型参考》点击进入仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、结构紧凑、使用简便等特点。仪器适用于半导体材料厂、器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的手持式导电性能的测试。

手持方式不限材料尺寸，但加配测试台则由选配测试台决定如下：    直    径：SZT-A圆测试台直接测试方式 Φ15～130mm。    SZT-C方测试台直接测试方式180mm×180mm。    长(高)度：测试台直接测试方式 H≤100mm。.    测量方位: 轴向、径向均可.

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