体积电阻率测试仪在线咨询

探头选配：根据不同材料特性需要，体积电阻率测试仪组图，探头可有多款选配。有高耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；也有球形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配专用探头，也可测试电池极片等箔上涂层电阻率方阻。      《四探针探头特点与选型参考》点击进入仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、结构紧凑、使用简便等特点。仪器适用于半导体材料厂、器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的手持式导电性能的测试。

手持方式不限材料尺寸，但加配测试台则由选配测试台决定如下：    直    径：SZT-A圆测试台直接测试方式 Φ15～130mm。    SZT-C方测试台直接测试方式180mm×180mm。    长(高)度：测试台直接测试方式 H≤100mm。.    测量方位: 轴向、径向均可.

仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、结构紧凑、使用简便等特点。仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。三、基本技术参数1. 测量范围、分辨率    电    阻：     0.010 ～ 9999Ω，    分辨率0.001 ～ 1 Ω    电 阻 率：     0.010～ 2000Ω-cm， 分辨率0.001 ～ 1 Ω-cm    方块电阻：     0.050～ 2000Ω/□   分辨率0.001 ～ 1 Ω/□2. 材料尺寸   手持方式不限材料尺寸，但加配测试台则由选配测试台和测试方式决定   直    径：SZT-A圆测试台直接测试方式 Φ15～130mm。   SZT-C方测试台直接测试方式180mm×180mm。   长(高)度：测试台直接测试方式 H≤100mm。.   测量方位: 轴向、径向均可.

北京冠测(多图)、天津市体积电阻率测试仪在线咨询由北京冠测精电仪器设备有限公司提供。行路致远，砥砺前行。北京冠测精电仪器设备有限公司（www.guance17.cn）致力成为与您共赢、共生、共同前行的战略伙伴，更矢志成为试验机较具影响力的企业，与您一起飞跃，共同成功!