四探针测试仪PN000134

便携式四探针测试仪（电阻率：0.01～1999.9Ω.cm，方块电阻：0.1～19999Ω/，可扩展，主机，FT201

货号：PN000134
本仪器广泛应用于太阳能单晶（多晶）生产厂家为硅材料的分选测试，半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等院校对半导体材料的电阻性能测试。
运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的，专用于测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。
仪器采用了最新电子技术进行设计、装配。具有功能选择直观、测量取数快、精度高、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特点。如有需要可加配测试台使用。

RTS2测量范围	电阻率：0.01～1999.9Ω.cm；    方块电阻：0.1～19999Ω/□；
RTS2A测量范围	电阻率：0.001～199.99Ω.cm；    方块电阻：0.01～1999.9Ω/□；
RTS2恒流源	电流量程分为100μA、1mA两档，各档电流连续可调
RTS2A恒流源	电流量程分为1mA、10mA两档，各档电流连续可调
数字电压表	量程及表示形式：000.00～199.99mV；　　　　  分辨力：10μV；  输入阻抗：>1000MΩ；  精度：±0.1% ；  显示：四位半红色发光管数字显示；极性、超量程自动显示；
四探针探头基本指标	间距：1±0.01mm；  针间绝缘电阻：≥1000MΩ；  机械游移率：≤0.3%；  探针：碳化钨或高速钢Ф0.5mm；  探针压力：5～16 牛顿(总力)；
四探针探头应用参数	(见探头附带的合格证)
模拟电阻测量相对误差 ( 按JJG508-87进行)	1Ω、10Ω、100Ω小于等于0.3%±1字
整机测量最大相对误差	(用硅标样片：0.01-180Ω.cm测试)≤±5%
整机测量标准不确定度	≤5%
外型尺寸	125mm(宽)*145mm(高)*245mm(深)
标准使用环境	温度：23±2℃；  相对湿度：≤65%；  无高频干扰；  无强光直射；