自动化测试系统

在所有的电子元器件(Device)的制造工艺里面，存在着去伪存真的需要，这种需要实际上是一个试验的过程。为了实现这种过程，就需要各种试验设备，这类设备就是所谓的ATE(Automatic Test Equipment)。 这里所说的电子元器件 DUT(Device Under Test)，测试系统价格，当然包括IC类别，此外，自动化测试系统，还包括分立的元件，合肥测试系统，器件。ATE存在于前道工序(Front End)和后道工序(Back End)的各个环节，具体的取决于工艺(Process)设计的要求。

ATE自动测试系统软件是整个测试系统的核心和关键，测试资源的管理与调度、UUT测试任务的实现、测试中的人机交互、测试/诊断信息的存储与利用等一系列功能的实现都依赖于测试系统软件，所以测试系统软件体系结构的合理性将直接影响到整个测试系统的性能。

ATE自动测试软件的发展经历三个阶段：

（1）面向仪器的测试软件结构

（2）面向应用的测试软件结构

（3）面向信号的测试软件结构

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