二坐标测量机升级

三坐标探针的使用方法

    三坐标坐标测量机是一种效率的新型精密测量仪器。它广泛应用于制造、电子、汽车和航空航天等工业中。作为一种检测仪器，对零件和部件的尺寸、形状及相互位置进行检测。

       三坐标机的测量原理是:将被测物体置于三坐标机的测量空间，可获得被测物体上各点的坐标位置，根据这些点的空间坐标值，经计算可求出被测的几何尺寸、形状和位置。

      测头是三坐标机非常关键的部件，是测量机触测被测零件的发讯开关，测头的正确使用决定了测量机的测量可重复。

测针的组成

测头是坐标测量机的一部分，主要用来触测工件表面，当测头的机械装置移位时，将产生信号触发并采集一个测量数据。一般的测头都是由一个杆和红宝石球组成(如图1所示)。红宝石是非常硬的材料，做成的测头的磨损量小。它的密度也非常低，质量从而可以避免由于机器运动或振动而造成的测头误触发。

测针的正确使用

测量过程中，要求测针的刚和测尖的形状都达到尽可能的程度，二坐标测量机维修，保证一定的测量精度，在对测头的使用上，应注意:

(1)测针长度尽可能短。测头弯曲或偏斜越大，精度将越低。因此在测量时，尽可能采用短测头。

(2)连接点少。每次将测针与加长杆连接在一起时，就额外引入了新的潜在弯曲和变形点。因此在应用过程中，尽可能减少连接的数目

(3)使测球尽可能大，主要原因有两个:使得球/杆的空隙大，这样减少了由于“晃动”而误触发的可能;测球直径较大可削弱被测表面未抛光对精度造成的影响

测针测量的可重复

图2所示，当测头的采样方向垂直于测头体(垂直于测杆轴线)时结果好，应尽可能使采样方向垂直于测头体;如果测头平行于测头体(沿着测杆轴线)采样，其结果的可重复比垂直于轴采样的可重复低;如果测头的采样方向既不垂直也不平行于测头体，则所得结果的可重复还不如平行于测头体;测头采样方向平行于测杆轴线，但是与测头体成一角度，将无法重复，应该尽可能避免。

避免杆的碰撞

测量时若测杆与零件接触，而不是用触点，测量系统则认为是用触点采样的，因此将引起很大的误差。此时，增加测杆球直径将增加球/柱空间，从而减少杆碰撞的可能。有效工作长度是测杆碰到特征之前，测杆可以达到的深度，通常，球越大，有效工作长度就越大。使用较大的测杆球还可以减少被检组件表面粗糙度的影响;但是，可以使用的大球受到所测量的小孔的限制。

此外，测头是精密测量仪器，应保持其清洁，并小心爱护，使它保持其大小和形状。测杆红宝石触点应该保持无污物，1μm的灰尘就可能导致1μm的测量误差。

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测头部分是二维、三维测量机的重要部件，测头根据其功能有：触发式、扫描式、非接触式（激光、光学）等。

触发式测头：是使用最多的一种测头，其工作原理是一个开关式传感器。当测针与零件产生接触而产生角度变化时，发出一个开关信号。这个信号传送到控制系统后，二坐标测量机回收，控制系统对此刻的光栅计数器中的数据锁存，凉山二坐标测量机，经处理后传送给测量软件，表示测量了一个点。

扫描式测头：有两种工作模式：一种是触发式模式，一种是扫描式模式。扫描测头本身具有三个相互垂直的距离传感器，可以感觉到与零件接触的程度和矢量方向，这些数据作为测量机的控制分量，控制测量机的运动轨迹。扫描测头在与零件表面接触、运动过程中定时发出信号，二坐标测量机升级，采集光栅数据，并可以根据设置的原则过滤粗大误差，称为“扫描”。扫描测头也可以触发方式工作，这种方式是高精度的方式，与触发式测头的工作原理不同的是它采用回退触发方式。

非接触式激光测头：设计这种小巧、高精度、非接触式激光测头，与影像测量机一起使用。该扫描测头自动调节至工件表面特征以提供准确的测量。根据环境和工件材质自动调节激光强度和相机感光度，以便更简单且舒适地进行激光扫描。改进的测头在无干扰的情况下提高了测量速度和精度。

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