ATE检测设备

ATE测试向量

   在ATE语言中，其测试向量包含了输入激励和预期存储响应，通过把两者结合形成ATE 的测试图形。这些图形在ATE中是通过系统时钟上升和下降沿、器件管脚对建立时间和保持时间的要求和一定的格式化方式来表示的。格式化方式一般有RZ（归零）、RO（归1）、NRZ（非归零）和NRZI（非归零反）等。

  在ATE中，通过测试程序对时钟周期、时钟前沿、时钟后沿和采样时间的定义，结合图形文件中存储的数据，形成实际测试时所需的测试向量。

   ATE测试向量与EDA设计向量不同，而且不同的ATE，其向量格式也不尽相同。

ATE测试向量的生成

   对简单的集成电路，ATE检测设备，如门电路，其ATE测试向量一般可以按照ATE向量格式手工完成。而对于一些集成度高，功能复杂的IC，合肥ATE检测，其向量数据庞大，一般不可能依据其逻辑关系直接写出所需测试向量，因此，有必要探寻一种方便可行的方法，ATE检测系统，完成ATE向量的生成。

   在IC设计制造产业中，设计、验证和仿真是不可分离的。其ATE 测试向量生成的一种方法是，从基于EDA工具的仿真向量（包含输入信号和期望的输出），经过优化和转换，形成ATE格式的测试向量。

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