天线测试系统市场分析

天线测试系统原理介绍

天线测试系统原理介绍

系统方案

天线近场测试系统包括测试设备、天线转台、天线支架、扫描架、微波暗室等部分，通过上述部分的相互配合，决定了系统的测试能力、精度等性能参数，下面分别进行详细介绍。

测试原理

在离开待测体(DUT)3～10λ距离上，用一个电特性己知的探头在DUT近区某一平面或曲面上扫描抽样电磁场的幅度和相位数据，湖北省天线测试，再经过严格的数学变换(FFT)计算出DUT的远区场的电特性，这一技术称之为近场测量技术，

近场测量方法自上世纪七十年代以来主要用于天线测量(辐射问题测量)，极化天线测试，它在待测天线(AUT)的近区做数据采样，并可由得到的数据经过数学变换，得到天线的远场特性，如远场方向图等。

对辐射近场测量而言，根据取样表面的不同，可分为平面扫描技术、柱面扫描技术和球面扫描技术。而平面近场测量技术是近场测量技术中研究最早、应用最多的测量方法，己被广泛用来测量天线的远场辐射特性。目前，近场天线测量的基本理论己基本成熟，短波天线测试，其核心部分便是考虑探头影响(有探头补偿)时的近远场变换理论，即考虑探头影响(有探头补偿)时AUT与探头间的耦合方程以及由近场数据确定待测天线远场方向图的公式。关于藕合方程及其由近场数据确定待测天线远场方向图的公式的推导大体上有两种方法，一种是基于平面波散射矩阵的理论，另一种是基于互易定理。

近场测量面选取应保证边缘处的电平低到可以忽略。这与测量系统的动态范围以及所要求的预计远场方向图的范围和精度有关。一般应使测量面截断处的场比中心部位的低30～40dB。图6为国外通用的计算探头扫描范围的示例图，其中参数D为大待测天线口径尺寸，P为探头大尺寸，Z为待测天线与探头之间的距离为（取3～10λ间），Ф为大扫描夹角。上述参数的选取与系统测试精度，扫描架尺寸，被测天线口径等有关，需要综合考虑计算。

天线测试系统数据分析

天线测试系统数据分析介绍

数据分析软件主要功能

数据分析软件调用实时测量软件得到的数据，实现 “近远场变换”的数据处理、显示等功能，主要功能如下。

（1） 近远场转换功能：由近场幅相数据转换为远场方向图，支持测量信息自动载入，支持变换前数据裁剪，支持变换到多种极化以及多种远场坐标系；

软件将自动读取测量信息，如扫描步长、范围、测量频率等，并根据用户输入的变换参数信息，如变换点数、坐标系、极化等进行近远场变换（包括探头补偿）。

（2） 天线方向性系数计算、天线增益对比分析；

根据天线方向图，用户可选择计算方向性系数，或进行天线增益对比分析，增益对比需载入同系统测试的标准增益喇叭天线远场数据。

（3） 数据导出功能：近场测量数据及转换后的远场数据导出；

变换后各极化远场数据将自动导出存储，方便再次读取调用，切面方向图数据可直接导出至Excel。

（4） 方向图显示功能：支持切面方向图直角坐标、极坐标显示，三维方向图强度图、等高线图、三维表面图、极球图；

方向图显示可进行多项选择，同时绘制显示多种形式的方向图。

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