老化设备

并行测试法

并行测试是在老化过程中进行器件测试最快的方法，这是因为有多条信号线连在器件的输入输出端，老化设备厂家，使数据传输量达到，I/O线的输入端由系统测试部分控制。并行测试有三种基本方式：各器件单引脚信号返回和多引脚信号返回。

·多引脚信号返回 该方法和单引脚信号返回类似，但是从每个器件返回的信号更多。由于每个器件有更多信号返回线，老化设备哪家好，所以这种方法要用到多个返回监测线路。而又因为必须要有大量返回线路为该方法专用，电子负载老化设备，因此会使系统总体成本急剧增加。没有内部自检而且又非常复杂的器件可能就需要用这种方法。

目前市面上有多种老化测试系统实现方法，凤岗老化设备，除了老化系统生产厂商制造的通用型产品外，半导体厂商也在内部开发了一些供他们自己使用的此类系统。大多数系统都采用电脑作主机，用于数据采集和电路基本控制，而一些非计算机系统只能用LED作为状态指示器，需要人工来收集数据。

为了能对老化板上的每一器件作独立测试，必须要在老化系统控制下将每个器件与其他器件进行电性隔离。存储器件非常适合于这种场合，因为它们被设计成按簇方式使用并带有多路选通信号，而逻辑器件则可能无法使用选通信号，这使得在老化系统中设计通用逻辑测试会更难一些。因此针对不同器件类型存在不同的逻辑老化系统是很正常的。

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