思瑞三坐标

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X射线层析摄像法

近些年来，lk三坐标，X射线层析摄像技术已成为获取多孔材料内部结构无损图像的有力工具。该技术可很好的表征多孔体的显微构造，被成功地应用于多孔结构及其变形模式的研究，这与X射线在该类材料中的低吸收有关。由于这种低吸收，X射线层析摄像法可用于对大块的多孔材料进行研究，而致密材料则须切成小块。这种方法的第二个优点就是可对多孔体的大变形实现无损成像，因而能够观测出多孔体在变形过程中所出现的重要屈曲、弯曲、或断裂等现象。

射线照相法的缺点是大量信息投射在单一的平面上，而且当沿样品厚度的微结构特征的数量很多时，所得图像难以解释这些信息。层析照相法则通过将大量的这种射线照片的信息结合在一起，从而弥补了这种不足。其中各辐射线照片取自位于探测l器前面的样品的不同方位。如果各射线照片之间的脚步足够小，则可根据成套的射线照片来重新计算出样品中各点的衰减系数值。这种重构可通过合适的软件来实现。

特点:X射线层析摄像技术可对微结构(可细至纳米尺度)进行定量的无损检测，空间分辨尺度可达10纳米左右。

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工业CT性能指标

分辨能力：工业CT系统的核心性能指标包括：①空间分辨率：从CT图像中能够辨别最l小结构细节的能力。②密度分辨率：从CT图像中能够分辨出最l小密度差异的能力（通常跟特征区域大小结合在一起评定）。空间分辨率与密度分辨率的关系。在辐射剂量一定的情况下，空间分辨率与密度分辨率是相互矛盾的两个指标。提高空间分辨率会降低密度分辨率，反之亦然。对于普通的工业CT系统，其核心性能指标只有空间分辨率和密度分辨率；而对于一台高精度测量工业CT系统而言，除了上述两个核心性能指标外，还有另外两个核心性能指标：①几何测量精度：在CT图像上测得某对象的几何尺寸与该对象真实尺寸之间的绝l对误差。②密度测量精度：在CT图像上测得某对象的密度值与该对象真实密度值之间的相对误差。

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