雷尼绍测头

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超声波扫描(C-SAM)

超声波显微镜 (SAT)是Scanning Acoustic Tomography 的简称，又称为C-SAM (C-mode Scanning Acoustic Microscope)。此检测为应用超声波与不同密度材料的反射速率及能量不同的特性来进行分析。 利用纯水当介质传输超声波信号，当讯号遇到不同材料的界面时会部分反射及穿透，此种发射回波强度会因为材料密度不同而有所差异，扫描声学显微镜就是利用此特性，来检验材料内部的缺陷并依所接收的信号变化将之成像。

目的：

无损检测电子元器件、LED、金属基板的分层、裂纹等缺陷（裂纹、分层、空洞等）；通过图像对比度判别材料内部声阻抗差异、确定缺陷形状和尺寸、确定缺陷方位。

应用范围：

塑料封装IC、晶片、PCB、LED

测试步骤：

确认样品类型→选择频率探头→放置测量装置中→选择扫描模式→扫描图像→缺陷分析

依据标准：

IPC/JEDEC J-STD-035 ，IPC/JEDEC J-STD-020， MIL-STD 883G， GJB 548B

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无损检测的可靠性及重要性

工作环境对检测结果的影响，往往容易被忽视，在实验室条件下，由于周围环境可以受到较严格的控制，雷尼绍测头价格，室温比较适宜，环境比较宁静，操作时间又可不受严格限定，雷尼绍测头原理，因此检测结果会比现场条件上获得较高的检测可靠性。

举例来说，渗透检测在实验室条件下可以对被检测物作充分的清洗，雷尼绍测头，去除被检测物的油污，获得满意的检测条件，从而能够取得较高的检测灵敏度，这在现场条件下就难以达到。又如，现场的噪声，雷尼绍测头，不适宜的温度等，都会影响检测人员的心理和生理状况，而影响检测结果。因此，改善环境条件亦是提高检测可靠性的重要环节。

除了以上所述外，影响检测可靠性的另一个重要因素是无损检测方法的局限性。

不同的无损检测方法所依据的物理原理是不相同的，它决定了每一种无损检测方法都有它自身的特点和局限性。因此，在检测时就应注意发挥某一方法的特点，避开它的局限性。

例如：对受压容器的焊缝检测，使用射线和超声两种方法检测能够得到比单一使用其中的一种方法获得较高的检测可靠性。有的缺陷只能用超声波来发现，而另一些如小气孔或小夹渣，则用射线照相法易于检出，故仅使用一种方法检测所得的结果是不全l面的。

因为不同方法都有其自身的局限性，只有采用多种方法检测才能获得更高的可靠性。

在谈到无损检测可靠性的时候，不应将无损检测结果的可靠性与设备或产品的可靠性混为一谈，这是两个不同的问题，但又是有联系的问题。

设备、产品的可靠性不仅与无损检测结果的可靠性有关，而且与设计、选材、加工、工艺、使用工况等有密切关系。

无损检测可靠性，不是指要求检出被检对象上的所有缺陷，因为绝l对无缺陷的材料是不存在的，而且任何一种无损检测方法都有它的极限检测灵敏度，因此只能要求无损检测人员按标准检出工件内部或表面不允许存在的一定当量大小的缺陷。

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