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光缆制造与衰减介绍
1.光缆制造:
现在光缆制造方法主要有:管内CVD(化学汽相沉积)法,48芯光缆厂家,棒内CVD法,PCVD(等离子体化学汽相沉积)法和VAD(轴向汽相沉积)法。
2.光缆的衰减:
造成光缆衰减的主要因素有:本征,弯曲,挤压,单模光缆厂家,杂质,不均匀和对接等。
本征:是光缆的固有损耗,包括:瑞利散射,固有吸收等。
弯曲:光缆弯曲时部分光缆内的光会因散射而损失掉,造成的损耗。
挤压:光缆受到挤压时产生微小的弯曲而造成的损耗。
杂质:光缆内杂质吸收和散射在光缆中传播的光,造成的损失。
不均匀:光缆材料的折射率不均匀造成的损耗。
对接:光缆收发器 光纤对接时产生的损耗,12芯光缆厂家,如:不同轴(单模光纤同轴度要求小于0.8μm),端面与轴心不垂直,端面不平,光缆厂家,对接心径不匹配和熔接质量差等。
【产品图】
如何对光纤跳线进行安全检测?
光纤跳线检测是为了保证系统连接的质量,减少故障因素,并在出现故障时找出光纤的故障点。主要的检测方法有人工简易测试和精密仪器测试。
人工简易检测这种方法是从光纤跳线的一端打入可见光,从另一端看哪一根发光来实现。这种方式简单却不能定量测量。精密仪器测量:所需工具有光功率计或光时 域反射图示仪,可测出光纤跳线的衰减和接头的衰减,甚至可测出光纤跳线的断点位置。这种测量可以定量分析出故障的原因。测试光纤跳线的时候还会出现数值不稳定的现,如果测试的只是光纤跳线的话,那就是接头做的不够好;如是把光纤与跳线连起来测的话就可能是熔接上在问题。 光纤测试时候如果插损值不太好,实际使用中在大量传输数据时容易丢数据包。河北光辉光电出厂的产品都是经过严格检验测试的
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光纤跳线
解决接续损耗的方案
(1)工程设计、施工和维护工作中应选用特性一致的优质光纤跳线一条线路上尽量采用同一批次的优质品牌裸纤,以求光纤跳线的特性尽量匹配,使模场直径对光纤熔接损耗的影响降到低程度。
(2)光缆施工时应严格按规程和要求进行
配盘时尽量做到整盘配置(单盘≥500米),以尽量减少接头数量。敷设时严格按缆盘编号和端别顺序布放,使损耗值达到很小。
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