设备失效分析

一些看上去非常传统的无损检测方法，杭州失效分析，实际上也已经发展出了许多新技术，失效分析仪器，譬如：射线检测——传统技术是：胶片射线照相（X 射线和伽马射线）。新技术有：高能X射线照相、数字射线成像（DR）、计算机射线照相（CR，类似于数码照相）、计算机层析成像（CT）、射线衍射等等。超声检测——传统技术是：A 型超声（A 扫描超声，A 超）。新技术有：B 扫描超声、C 扫描超声（C 超）、超声衍射（TOFD）、相控阵超声、共振超声、电磁超声、超声导波等等。

? ? ??Phase12 热阻测试仪产自美国 Analysis Tech(Anatech)公司，符合美军标和 JEDEC 标准.

? ? ? Analysis Tech Inc.成立于 1983 年，坐落于波士顿北部，是电子封装器件可靠性测试的国际设计，制造公司。创始人 John W.Sofia 是美国麻省理工的博士，并且是提出焊点可靠性，热阻分析和热导率理论的. 发表了很多关于热阻测试于分析，热导率及焊点可靠性方面的. Analysis Tech Inc.在美国有独立的实验室提供技术支持. 在全热阻测试仪这套设备有几百家客户.

? ? ? 主要用于测试二极管，三极管，线形调压器，可控硅，LED，MOSFET，MESFET ，IGBT，IC 等分立功率器件的热阻测试及分析。

泄漏检测技术参数及优势编辑 语音强大的检测灵敏度：可以检测到距离70英尺(约20米)，压力0.03兆帕，0.1大小的泄漏点，任何环境下增益的可调节范围从50直到110，失效分析设备，可调频率范围从34至46，甚至能够检测到小的泄漏，供电方式：锂离子电池具有的操作时间为6小时，工作温度范围：10°+50°，配置：主机耳机电池充电器，线，软件数据线说明书。

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