厂商 :扬芯科技(深圳)有限公司
广东省 深圳市- 主营产品:
- 近场辐射问题解决方案
- 辐射抗扰度问题解决方案
- 辐射杂散预测试系统
IC高频近场扫描仪的日常使用和保养都包括哪些内容:1.一些扫描仪在设计上并没有完全切断电源的开关,当用户不用时,扫描仪的灯管依然是亮着的,由于扫描仪灯管也是消耗品(可以类比于日光灯,但是持续使用时间要长很多),所以建议用户在不用时切断电源。2.扫描仪应该摆放在远离窗户的地方,应为窗户附近的灰尘比较多,而且会受到阳光的直射,会减少塑料部件的使用寿命。3.由于IC高频近场扫描仪在工作中会产生静电,从而吸附大量灰尘进入机体影响镜组的工作。因此,不要用容易掉渣儿的织物来覆盖(绒制品,郑州连续近场扫描怎么使用,棉织品等),可以用丝绸或蜡染布等进行覆盖,郑州连续近场扫描怎么使用,房间适当的湿度可以避免灰尘对扫描仪的影响,郑州连续近场扫描怎么使用。将原来的半双工板放在扫描仪上,进行基线测量。郑州连续近场扫描怎么使用
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PCB近场扫描仪FLS 106 PCBset的目的是,方便近场探头检测电子元件组的磁场或电场。扫描仪和近场探头系列(从SX到LF)的组合可以测量频率范围为100kHz-10GHz的电场或磁场。该近场探头可以在元件组上方沿三个轴运动。近场探头在受试设备上方的光学定位可以在数字显微相机的协助下完成。扫描仪支持防撞功能,在探头沿垂直方向运动触碰到受试设备时停止运动。PCB近场扫描仪FLS 106 PCBset的目的是方便近场探头检测电子元件组的磁场和电场,扫描仪和近场探头系列的组合可以测量频率范围为100KHz-10GHz的电磁和磁场。该近场探头可以在元件组上方沿三个轴运动。近场探头在受测设备上方的光学定位可以在数字显微镜的协助下完成,扫描支持防撞功能,在探头沿垂直方向运动触碰到受试设备时停止运动,在电脑上通过ChipScan-Scanner软件可以控制FLS106PCB型扫描仪。这款软件同时可以从频谱分析仪中读取测量数据(2D或3D)图像,以及输出测量数据(CSV文件)。郑州连续近场扫描怎么使用测量将遭受由空气在距离和时间上的温度差异引起的衍射问题。

汽车厂商往往采用新的的消费电子系统来体现与其他厂商汽车的差异化,该系统必须在各种苛刻的条件下都能正常工作。动力系统、系统和其它汽车控制系统也都有同样的要求,一旦出现故障,这些系统会导致更加严重的后果。汽车电子系统对于供应商提供的芯片和印制电路板的电磁辐射特别敏感。因此,SAE(原汽车工程师协会)已经定义测试规范并建立满足电磁兼容(EMC)和电磁干扰(EMI)的需求,并对其进行了不断的完善。采用极近场EM扫描技术,供应商的设计团队可以通过一个桌面系统来计量并立即显示辐射的空间和频谱特性,避免以后在更高费用的模块、系统或整车级测试中出现问题。
散射近场测量:(1)常规天线电参数的测量:天线近场测量可以给出天线各个截面的方向图以及立体方向图,可以分析出方向图上的所有电参数(波束宽度、副瓣电平、零值深度、零深位置等)和天线的极化参数(轴比、倾角和旋向)以及天线的增益。(2)低副瓣或很低副瓣天线的测量:天线方向图副瓣电平在-28~-35 dB之间的天线称为低副瓣天线;副瓣电平小于-40 dB的天线称为很低副瓣天线。对它们的测量要用到“零探头”技术,据文献报导,副瓣电平在-40 dB以上时,测量精度为±3 dB,副瓣电平为-55 dB时,测量精度为±5 dB。扫描技术有助于快速解决普遍的电磁设计问题。
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为了量化比较半双工解串器与新一代全双工设计的辐射特性,设计团队再次使用了内部的EMI极近场扫描仪。他们将原来的半双工板放在扫描仪上,进行基线测量。对待测器件加电后,他们在PC上开启了扫描仪。采用同样的测试设置,设计团队用新一代全双工芯片组板替代了基线板,同时也针对每一条特性保持了同样的规格。需注意的是,空间扫描叠加在每次生成的Gerber设计文件上,以帮助工程师可以确定任何存在的辐射源。基线(半双工)系统的空间和频谱特性。展示了全双工模式下的辐射扫描结果。低频测量更准确,不需要房间校准曲线。郑州连续近场扫描怎么使用
设计工程师可以在采取了相应的解决措施之后,对器件进行重新测试并立即量化出校正设计后的效果。郑州连续近场扫描怎么使用
近场扫描系统的制作方法:测量一件介质板对电磁波的响应特征,需要用一个馈源发射电磁波,然后用一个设备来馈源发出的电磁波穿过该介质板后的电磁波其空间各个点的电磁特性,然后利用处理设备将检测到的空间各点的电磁特性值记录下来并进行分析,通过对比有、无介质板电磁参数特性的变化,推导出介质材料对电磁波的响应特性。以上过程需要通过三维近场扫描系统完成。现有的三维近场扫描系统,馈源、介质板及单元的位置都是手工调节的,测试效率低,定位又不准确。郑州连续近场扫描怎么使用
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